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金东霖科技——X射线膜厚仪
【简单介绍】
【详细说明】
金东霖科技——X射线膜厚仪利用X射线荧光的非接触式的无损测试技术*地应用于微电子学、光通讯和数据储存工业中的金属薄膜测量。可以同时测量多至6层的金属镀层的厚度和成份,测量厚度可以从埃(?)至微米(um),它也能测量多至20个元素的块状合金成份。此仪器结构紧凑、坚固耐用、用于质量控制的可靠的台式X射线荧光分析设备,提供简单、快速、无损的镀层厚度测量和材料分析。
如果您需要一台出色、准确可靠的测量仪器,BA 100 是您正确的选择。
金东霖科技——X射线膜厚仪* 采用x射线的荧光原理方法,这是适合测量非铁性镀层在钢材或非铁性金属底材上的厚度,甚至镍层在钢材上的厚度也可以测量。
* 对在铁上镀锌层、电路板的铜箔及孔铜壁的厚度测理也十分理想。而且可以在同一时间分别测量两层镀层厚度。
* 用来测量钢板上镀锌层及油漆的厚度,或是在铝上油漆层的厚度,涂镀可两用,是一款非常不错的仪器。
* zui显著的功能是可以穿透绿油测下面的铜厚,这是其他品牌仪器无法做到的。
* 适合于使用在不需要全部测量数据存储,评估和输出,但又需要在各种几何外形和镀层厚度范围的测试工件上测量的情况下。配有不同的准直器以适应各种应用情况.
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