产品展示
【简单介绍】
【详细说明】
X射线膜厚仪——博曼利用X射线荧光的非接触式的无损测试技术*地应用于微电子学、光通讯和数据储存工业中的金属薄膜测量。可以同时测量多至6层的金属镀层的厚度和成份,测量厚度可以从埃(?)至微米(um),它也能测量多至20个元素的块状合金成份。此仪器结构紧凑、坚固耐用、用于质量控制的可靠的台式X射线荧光分析设备,提供简单、快速、无损的镀层厚度测量和材料分析。
如果您需要一台出色、准确可靠的测量仪器,BA 100 是您正确的选择。
X射线膜厚仪——博曼* 技术指标型号:元素分析范围从铝(AL)到铀(U)。
* 一次可同时分析zui多24个元素或五层以上镀层。
* 元素分析检出限可达2ppm,分析含量一般为2ppm到99.9%。镀层厚度zui薄可达0.005um,一般在20um内(不同材料有所不同)。
* 小孔准直器(zui小直径0.1mm),测试光斑在0.2mm以内。
* 高精度移动平台(定位精度小于0.005mm)。
* 任意多个可选择的分析和识别模型。
* 尺寸:576 x 495x545 mm
* 重量:90 kg
* 标准配置开放式样品腔。
* 精密二维移动样品平台,探测器和X光管上下可动,实现三维移动。
* 双激光定位装置。
* 铅玻璃屏蔽罩。
* Si-Pin探测器。
* 信号检测电子电路。
* 高低压电源。
* X光管。
* 高度传感器保护传感器计算机及喷墨打印机。
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