产品展示
【简单介绍】
【详细说明】
X射线膜厚仪利用X射线荧光的非接触式的无损测试技术*地应用于微电子学、光通讯和数据储存工业中的金属薄膜测量。可以同时测量多至6层的金属镀层的厚度和成份,测量厚度可以从埃(?)至微米(um),它也能测量多至20个元素的块状合金成份。此仪器结构紧凑、坚固耐用、用于质量控制的可靠的台式X射线荧光分析设备,提供简单、快速、无损的镀层厚度测量和材料分析。
如果您需要一台出色、准确可靠的测量仪器,BA 100 是您正确的选择。
X射线膜厚仪产品用途:电镀层厚度及多镍镀层电位测量
应用领域:PCB、LED、航天航海、电子电器、线路板、五金锁具、塑胶电镀、标准件、钕铁硼、技术监督部门及科研机构。
测量镀种:装饰铬、镍、铜、锌、锡、银、金、镉、硬铬、化学镍、多层镍,复合镀层(如Cr/Ni/Cu)约30几种镀层基体组合。如需测量其他镀层可事先提出.
镀层底材:金属、非金属、钕铁硼等
镀层层数:单层及复合多层
测量范围:13号~92号元素(保证精度情况下,更厚镀层也可测量)
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