产品展示
X射线膜厚仪——金东霖科技
【简单介绍】
【详细说明】
X射线膜厚仪——金东霖科技利用X射线荧光的非接触式的无损测试技术*地应用于微电子学、光通讯和数据储存工业中的金属薄膜测量。可以同时测量多至6层的金属镀层的厚度和成份,测量厚度可以从埃(?)至微米(um),它也能测量多至20个元素的块状合金成份。此仪器结构紧凑、坚固耐用、用于质量控制的可靠的台式X射线荧光分析设备,提供简单、快速、无损的镀层厚度测量和材料分析。
如果您需要一台出色、准确可靠的测量仪器,BA 100 是您正确的选择。
X射线膜厚仪——金东霖科技* 仪器的特长:广泛应用型可测元素:AL~U
* X射線管:小型空气冷却型高功率X射线管球(W靶)
* 管电压:45kV
* 管电流:1mA Be
* 窗滤波器:一次滤波器:A1-
* 自动切换二次滤波器:Co-
* 自动切换检测器:比例计数管
* 样品观察:CCD摄像机
* 对焦方式:激光自动对焦
* 测定软件:世界上zui的FP法。数学计算测量方法 .
* 安全机能:测量室门自锁功能 Z轴防冲撞功能 仪器自诊断功能
* 仪器介绍:测量数据与Word和Excel链接自动生成报告和数据处理
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