产品展示
【简单介绍】
【详细说明】
膜厚测试仪——博曼利用X射线荧光的非接触式的无损测试技术*地应用于微电子学、光通讯和数据储存工业中的金属薄膜测量。可以同时测量多至6层的金属镀层的厚度和成份,测量厚度可以从埃(?)至微米(um),它也能测量多至20个元素的块状合金成份。此仪器结构紧凑、坚固耐用、用于质量控制的可靠的台式X射线荧光分析设备,提供简单、快速、无损的镀层厚度测量和材料分析。
如果您需要一台出色、准确可靠的测量仪器,BA 100 是您正确的选择。
膜厚测试仪——博曼x射线的原理是X射线和紫外线与红外线一样是一种电磁波。可视光线的波长为0.000001 m (1μm)左右。
对某物质进行X射线照射时,可以观测到主要以下3种X射线。
(1) 萤光X射线
(2) 散乱X射线
(3) 透过X射线
膜厚测试仪,分为手持式和台式二种,手持式又有磁感应镀层测厚仪,电涡流镀层测厚仪,荧光X射线仪镀层测厚仪。手持式的磁感应原理时,利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小.来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小,来表示其覆层厚度。
台式的荧光X射线膜厚测试仪,是通过一次X射线穿透金属元素样品时产生低能量的光子,俗称为二次荧光,,在通过计算二次荧光的能量来计算厚度值。
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