bowman——膜厚测试仪

bowman——膜厚测试仪利用X射线荧光的非接触式的无损测试技术*地应用于微电子学、光通讯和数据储存工业中的金属薄膜测量。可以同时测量多至6层的金属镀层的厚度和成份，测量厚度可以从埃（?）至微米（um），它也能测量多至20个元素的块状合金成份。此仪器结构紧凑、坚固耐用、用于质量控制的可靠的台式X射线荧光分析设备，提供简单、快速、无损的镀层厚度测量和材料分析。
如果您需要一台出色、准确可靠的测量仪器，BA 100 是您正确的选择。

bowman——膜厚测试仪硬件配置（均为美国标准配）：
*  射 线 管：微聚焦型W靶鈹窗X射线管功率50W
*  激发电源：仪器可调节式高压电源30-40-50KV高压激发电源
*  检 测 器：数字半导体接收器
*  滤 波 器：镍（Ni）滤波;铝（AI）滤波；和空气滤波三种
*  准 直 器：4个（自动司服转化功能）
   圆 形4个: 0.1φ, 0.2φmm,0.3φmm，1.5φmm
*  摄像系统：彩色CCD摄像系统。
*  整体外观尺寸：长*宽450*450mm 整体重量：32KG
   样品的测量台：XY轴可移动样品台
   样品室，室内尺寸：长*宽*高=360*380*240 
*  搭载自动制作生成图文测量检验报告书
*  戴尔E390商务电脑及19寸液晶显示器（戴尔原装电脑具体配置随机性）
   智能英特尔  奔腾  G630处理器；OptiPLex(TM) 390MT机箱
   1GB（1x1GB）Non-ECC DDR3 1333MHZ SDRAM Memory
   500GB 7200 RPM 3.5 SATA Hard Drive，DeLL IN1930 19英寸显示器
*  工具配置箱一件，样品环二个，样品膜一卷（可使用数年）