美国膜厚测试仪

美国膜厚测试仪利用X射线荧光的非接触式的无损测试技术*地应用于微电子学、光通讯和数据储存工业中的金属薄膜测量。可以同时测量多至6层的金属镀层的厚度和成份，测量厚度可以从埃（?）至微米（um），它也能测量多至20个元素的块状合金成份。此仪器结构紧凑、坚固耐用、用于质量控制的可靠的台式X射线荧光分析设备，提供简单、快速、无损的镀层厚度测量和材料分析。
如果您需要一台出色、准确可靠的测量仪器，BA 100 是您正确的选择。

美国膜厚测试仪整体描述：    
美国BOWMAN X-RAY 設備遵循ASTM B568， DIN 50 987和ISO 3497 等國家和國際標準，主要基於鍍層厚度測量和材料分析的X-射線系統。採用全新數學計算方法,採用的FP (Fundamental Parameter）強大的電腦功能 來進行鍍層厚度的計算，在加強的軟體功能之下，簡化了測量比較複雜鍍層的程式。
（1）、配置硬件革新：
   采用半导体接收器，分辨率较传统品牌比例接收品提高数倍,较传统X-RAY精确度提高了50%以上，   在测试薄金（Au)方面表现更为突出。
（2）、超常保固期：2年（24个月），较其它品牌整机延长一倍；
（3）、前沿的测量技术：所有产品均为美国*，
       超低的售价：相对于其它品牌同档次的机型售价降低了50%