行业产品

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深圳市科时达电子科技有限公司


经营模式:其他

商铺产品:228条

所在地区:广东深圳市

联系人:林经理

  • 日本Microphase 分子束外延系统

    详细摘要: 专业的沉积设备制造商,为各个领域的客户提供完善的薄膜沉积解决方案:电子束蒸发系统、热蒸发系统、超高真空蒸发系统、分子束外延MBE、有机分子束沉积OMBD、等离子...

    产品型号:所在地:深圳市更新时间:2022-11-02 在线留言

  • 日本Microphase 电子束蒸发系统 EBES

    详细摘要: 专业的沉积设备制造商,为各个领域的客户提供完善的薄膜沉积解决方案:电子束蒸发系统、热蒸发系统、超高真空蒸发系统、分子束外延MBE、有机分子束沉积OMBD、等离子...

    产品型号:所在地:深圳市更新时间:2022-11-02 在线留言

  • 日本Microphase 光谱响应测试系统/IPCE测试系统/QE量子效测量系统

    详细摘要: 来自美国专业太阳能测试设备制造商为客户提供全套专业的设备:1.太阳能电池光谱响应测试系统、IPCE测试系统、QE量子效率测试系统;2.太阳能电池测量系统(光谱响...

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  • 日本Microphase 薄膜热应力测试系统Thermal Scan

    详细摘要: 该设备已经广泛被高等学府(如:Harvard Univeity 2套,Stanford Univeity,Joh Hopki Univeity,Brown Un...

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  • 日本Microphas磁控溅射系统

    详细摘要: 专业的沉积设备制造商,为各个领域的客户提供完善的薄膜沉积解决方案:电子束蒸发系统、热蒸发系统、超高真空蒸发系统、分子束外延MBE、有机分子束沉积OMBD、等离子...

    产品型号:所在地:深圳市更新时间:2022-11-02 在线留言

  • 日本Microphase 表面等离子体共振分析仪SPR

    详细摘要: 表面等离子共振(SPR, Surface Plasmon Resonance)是一种物理光学现象。当入射光以临界角入射到两种不同透明介质界面(如镀在玻璃表面的金...

    产品型号:所在地:深圳市更新时间:2022-11-02 在线留言

  • 日本Microphase 原位薄膜应力测量仪

    详细摘要: 采用非接触激光MOS技术;不但可以精确的对样品表面应力分布进行统计分析,而且还可以进行样品表面二维应力、曲率成像分析;客户可自行定义选择使用任意一个或者一组激光...

    产品型号:所在地:深圳市更新时间:2022-11-01 在线留言

  • 日本Microphase 薄膜应力测量仪

    详细摘要: 采用非接触MOS激光技术;不但可以精确的对样品表面应力分布进行统计分析,而且还可以进行样品表面二维应力、曲率成像分析;并且这种设计始终保证所有阵列的激光光点始终...

    产品型号:所在地:深圳市更新时间:2022-11-01 在线留言

  • 日本Microphase 光谱椭偏仪 PHE

    详细摘要: 高精度光谱椭偏仪!可以精确测量折射指数、消光系数(n & K),膜厚等,广泛适用于半导体、电介质、聚合物、金属等材料,单层薄膜和多层膜。客户包括US Army ...

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  • 日本Microphase 原子层沉积系统

    详细摘要: 日本Microphase 原子层沉积系统

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  • 布鲁克Bruker Dektak XT探针式轮廓仪

    详细摘要: DektakXT®探针式轮廓仪采用革命性的台式设计,可实现 4Å (0.4nm) 的的重复性,扫描速度可提高 40%。探针式轮廓仪性能的这一重大里程碑是...

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  • 布鲁克Bruker Dektak XTL探针式轮廓仪

    详细摘要: Dektak XTL™ 探针式轮廓仪可容纳高达 350mm x 350mm 的样品,为大型晶圆和面板制造带来Dektak ®传奇的可重复性。...

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  • 布鲁克Bruker 三维光学轮廓仪ContourX-100

    详细摘要: 具备性价比的 ContourX-100 光学轮廓仪为精确的、可重复的、非接触式表面测量树立了新基准。该系统占地面积小,所采用的简化方案融合了布鲁克几十年的白光干...

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  • 布鲁克Bruker 三维光学轮廓仪 ContourX-500

    详细摘要: ContourX-500 光学轮廓仪是功能面的自动化台式系统,可快速完成非接触式三维表面计量。ContourX-500 具有的 Z 轴分辨率和准确度,并具备布鲁...

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  • 布鲁克 Bruker光学轮廓仪 ContourX-200

    详细摘要: ContourX-200 光学轮廓仪提供了高级表征能力、可选定制配件、和使用方便三者的融合,是同类产品中、最准确、可重复性的非接触式三维表面计量系统。该计量系统...

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  • 布鲁克Bruker 三维光学轮廓仪ContourGT-X

    详细摘要: ContourGT-X 三维光学轮廓仪提供高性能非接触表面测量,适用于实验室研究和生产过程控制。该测量系统融合了十代白光干涉(WLI)创新和设计,可在业界的视场...

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  • 布鲁克 Bruker 三维光学轮廓仪 ContourSP

    详细摘要: ContouP 大面板计量系统融合了十余年封装光学表征专业技术,使高密度互连 PCB(HDI-PCB)基板的测量效率比上一代白光干涉(WLI)仪器增加了一倍以上...

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  • 布鲁克Bruker 三维光学轮廓仪 NFLEX

    详细摘要: NPFLEX 三维计量系统,为骨科医疗植入物等大型样品以及航空航天业、汽车业和精密加工业的大型零部­件提供超灵活非接触式三维区域表面表征。该系统的数据密度、分辨...

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  • 布鲁克 Bruker PI 89 扫描电镜纳米压痕仪

    详细摘要: The Hysitron PI 89 扫描电镜联用纳米压痕仪利用扫描电子显微镜(SEM、FIBEM)的成像能力,可以在成像的同时进行定量纳米力学测试。这套全新系...

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  • 布鲁克 Sierra SPR®-32 Pro

    详细摘要: More than 4400 samples per day generating more than 13,200 control subtracted bi...

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