深圳市科时达电子科技有限公司
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ContourGT-X 三维光学轮廓仪提供高性能非接触表面测量，适用于实验室研究和生产过程控制。该测量系统融合了十代白光干涉（WLI）创新和设计，可在业界的视场范围内提供的垂直分辨率。该系统主要包括全自动化系统与生产界面，一个大型电动 XYZ 平台、扫描头的倾斜/俯仰以及一个集成气浮式防震台。ContourGT-X 专为满足的研发、质量保证和工艺质量控制需求而设计，提供了具有计量能力的三维光学精度和测试稳定性解决方案。
ContourGT-X 三维光学轮廓仪提供高性能非接触表面测量，适用于实验室研究和生产过程控制。该测量系统融合了十代白光干涉（WLI）创新和设计，可在业界的视场范围内提供的垂直分辨率。该系统主要包括全自动化系统与生产界面，一个大型电动 XYZ 平台、扫描头的倾斜/俯仰以及一个集成气浮式防震台。ContourGT-X 专为满足的研发、质量保证和工艺质量控制需求而设计，提供了具有计量能力的三维光学精度和测试稳定性解决方案。
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