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半导体晶圆缺陷检测设备
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2025-01-06 11:19:11
14
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厂商性质
:
其他
品牌
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所在地区
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武汉市
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图片描述:
面向半导体产业链中游晶圆生产企业、下游封装测试企业,采用独立开发的多通道明暗场并行检测系统,对半导体有图形晶圆、晶粒的外观缺陷进行检测。检测精度3μm镜头显微镜头整机尺寸(mm)2000*1200*2250
图片来源:
https://www.56js.com/gongying/1994899.html
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