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  • 三丰卡尺 530-312游标卡尺

    详细摘要: 三丰卡尺 530-312游标卡尺

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  • 三丰薄片卡尺573-134

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  • 三丰卡尺 536-121/NT12-15刻度尖爪卡尺

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  • 三丰卡尺 573-121-10/NTD12-15CX卡尺尖爪型

    详细摘要: 三丰卡尺573-121-10/NTD12-15CX卡尺尖爪型产品简介日本三丰尖爪卡尺(573、536系列)日本三丰卡尺尖爪的特点:三丰卡尺尖爪型量爪可伸入非常小...

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  • 三丰卡尺 573-605/NTD10P-15CX数显卡尺

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  • 三丰卡尺 573-601/NTD10-15CX数显卡尺

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  • 三丰卡尺 534-114/CM50L长量爪游标卡尺

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  • 三丰卡尺 160-153圆弧刃量爪卡尺

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  • 三丰卡尺 551-201-10/CDN-20CX圆弧刃量爪卡尺

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  • 三丰卡尺160-170/C20P圆弧刃量爪卡尺

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  • SQ100工业显微镜

    详细摘要: 【SQ100工业显微镜(new)--工业显微镜】产品名称:SQ100工业显微镜型  号:SQ100SQ100工业显微镜简介光学系统:无限远光学系统;同轴连续变倍...

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  • FPD检查显微镜SQ200

    详细摘要: 【FPD检查显微镜(new)--工业显微镜】产品名称:FPD检查显微镜型  号:SQ200产品介绍无穷远光学系统设计,限度的减少光学元件对成像的影响

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  • 工业测量显微镜IM-3

    详细摘要: 【工业测量显微镜--工业显微镜】产品名称:工业测量显微镜型  号:IM-3IM-3工业测量显微镜提供了一种新型工业测量的解决方案

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  • 液晶板检查显微镜IM-4

    详细摘要: 【液晶板检查显微镜--工业显微镜】产品名称:液晶板检查显微镜型  号:IM-4液晶板检查显微镜IM-4广泛应用于工业半导体检测,液晶面板的检查,电子接插件、电路...

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  • 工业观察显微镜--工业显微镜

    详细摘要: 【工业观察显微镜--工业显微镜】产品名称:工业观察显微镜型  号:IM-2工业观察显微镜IM-2简介光学系统:无限远光学系统;同轴连续变倍变倍率1:6

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  • S680 直流/射频参数测试系统

    详细摘要: S680直流/射频参数测试系统主要特点及优点:单一平台上的晶圆级直流/射频测试专为最小化测试费用而设计应用广泛基于SECS/GEM的300mm和200mm自动化...

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  • S510半导体可靠性测试系统

    详细摘要: S510半导体可靠性测试系统主要特点及优点:为65nm栅电介质结构NBTI和TDDB测试进行优化加速可靠性建模的数据采集通过自动化并行晶圆上测试提高产出为高度灵...

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  • 4200-SCS半导体特性分析系统

    详细摘要: 4200-SCS半导体特性分析系统主要特点及优点直观的、点击式Windows操作环境的远端前置放大器

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  • 4200-CVU型适于4200-SCS的集成C-V选件

    详细摘要: 主要特点及优点集成的C-V表适合于4200-SCS机架

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