上海聚星仪器有限公司
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JXI-R1200射频识别综合测试仪基于PXI矢量射频模块和FPGA核心的中频模块，具有内建的RFID协议栈，能够实时发射并采集RFID通讯的射频信号，进行完整的射频参数及协议参数的分析测试
JXI-R1200射频识别综合测试仪基于PXI矢量射频模块和FPGA核心的中频模块，具有内建的RFID协议栈，能够实时发射并采集RFID通讯的射频信号，进行完整的射频参数及协议参数的分析测试。
针对RFID阅读器，标签或系统测试的不同需求，本测试仪可配置为阅读器模拟器，标签模拟器，信号器等不同的测试模式。其中阅读器模拟模式能主动发射RFID指令信号，同时接收和分析标签响应，适用于标签测试；标签模拟模式能接收和分析RFID指令信号，同时发射RFID响应信号，适用于阅读器测试；信号模式能采集、实时流盘和回放RFID系统的通讯信号，适用于RFID系统的整体测试和故障诊断。
射频识别综合测试仪结合了的模块化仪器和软件无线电技术，适用于RFID协议的仿真，以及RFID阅读器、标签的一致性、互操作性和性能测试。本测试仪具有软件自定义的特点，可针对不同的RFID标准进行测试，如ISO 14443、ISO 15693、ISO 18000-3、ISO 18000-6、ISO 18000-7、EPC Class 1 Generation 2等，并支持后续不断发展的RFID协议。本测试仪还被ISO18000-7协议组认证为标准测试系统。
参考文档
【PDF】聚星RFID产品手册
【PDF】用户使用手册
【PDF】超高频射频识别标签灵敏度测试
【PDF】物联网应用驱动RFID应用测试
【PDF】高速运动场景射频识别性能测试的方法
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