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电子标签全性能测试系统

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产品型号JXI-R1220

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更新时间：2024-08-22 11:53:59浏览次数：123次

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上海聚星仪器有限公司

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产品简介

聚星超高频RFID电子标签全性能测试系统基于PXI矢量射频模块和FPGA基带模块，集成了自主研发的RFID测试软件，具有内建的RFID协议栈，能够实时发射并采集RFID通讯的射频信号，进行完整的性能参数的测试与分析

详细介绍

聚星超高频RFID电子标签全性能测试系统基于PXI矢量射频模块和 FPGA基带模块，集成了自主研发的RFID测试软件，具有内建的RFID协议栈，能够实时发射并采集RFID通讯的射频信号，进行完整的性能参数的测试与分析。本测试系统结合了的模块化仪器和软件无线电技术，具有软件自定义的特点，支持的超高频标准包括：ISO/IEC 18000-6C、EPC UHF C1G2、GS1 TIPP、GB/T 29768、GJB 7377.1，而且只需要通过软件升级的方式，就可以支持其他标准的产品测试。

参考文档

【PDF】聚星RFID产品手册

【PDF】超高频射频识别标签灵敏度测试

【PDF】物联网应用驱动RFID应用测试

【PDF】高速运动场景射频识别性能测试的方法

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