详细摘要: 采用全量程米氏散射理论
产品型号:JG001所在地:更新时间:2025-05-05 在线留言上海洪纪仪器设备有限公司
详细摘要: 采用全量程米氏散射理论,充分考虑到被测颗粒和分散介质的折射率等光学性质,根据大小不同的颗粒在各角度上散射光强的变化反演出颗粒群的粒度分布数据。颗粒测试的数据计算...
产品型号:JG005所在地:更新时间:2025-05-05 在线留言详细摘要: 采用全量程米氏散射理论,充分考虑到被测颗粒和分散介质的折射率等光学性质,根据大小不同的颗粒在各角度上散射光强的变化反演出颗粒群的粒度分布数据。颗粒测试的数据计算...
产品型号:JG004所在地:更新时间:2025-05-05 在线留言详细摘要: 采用全量程米氏散射理论,充分考虑到被测颗粒和分散介质的折射率等光学性质,根据大小不同的颗粒在各角度上散射光强的变化反演出颗粒群的粒度分布数据。颗粒测试的数据计算...
产品型号:JG006所在地:更新时间:2025-05-05 在线留言详细摘要: 采用全量程米氏散射理论,充分考虑到被测颗粒和分散介质的折射率等光学性质,根据大小不同的颗粒在各角度上散射光强的变化反演出颗粒群的粒度分布数据。颗粒测试的数据计算...
产品型号:JG007所在地:更新时间:2025-05-05 在线留言详细摘要: 采用全量程米氏散射理论,充分考虑到被测颗粒和分散介质的折射率等光学性质,根据大小不同的颗粒在各角度上散射光强的变化反演出颗粒群的粒度分布数据。颗粒测试的数据计算...
产品型号:JG008所在地:更新时间:2025-05-05 在线留言详细摘要: 采用全量程米氏散射理论,充分考虑到被测颗粒和分散介质的折射率等光学性质,根据大小不同的颗粒在各角度上散射光强的变化反演出颗粒群的粒度分布数据。颗粒测试的数据计算...
产品型号:JG009所在地:更新时间:2025-05-05 在线留言详细摘要: 采用带数码目镜的显微镜,不仅可以用一般目镜.且可应用的彩色CCD 通过显示器(由客户自备)研究、测定物质热特性。它既可作为微量样品的熔点测定,又可进行生物工程的...
产品型号:WRX-1S所在地:更新时间:2025-05-05 在线留言详细摘要: 测定液体和固体的折射率nD和糖水溶液中干固物的质量分数即Brix ,采用目视瞄准,背光液晶显示。测定锤度即可进行温度修正。棱镜采用硬质玻璃,不易磨损。配RS23...
产品型号:AB001所在地:更新时间:2025-05-05 在线留言详细摘要: WYA-ZL自动阿贝折射仪是能测量透明、半透明液体的折射率nD和糖溶液的质量分数(Brix)的仪器。具有友好的操作界面、自动测量、测试速度快、重复性好,有温度修...
产品型号:AB003所在地:更新时间:2025-05-05 在线留言详细摘要: 阿贝折射仪是能测定透明、半透明液体或固体的折射率nD 和平均色散nD-nC 的仪器(其中以测透明液体为主),如仪器上接恒温器,则可测定温度为10 ℃ 一50 ℃...
产品型号:AB002所在地:更新时间:2025-05-05 在线留言详细摘要: 本仪器可用来对透明或半透明固体和液体物质的折射率,平均色散和部分色散进行快速地测定(即能测定706.5nm、656.3nm、589.3nm、546.1nm、48...
产品型号:WYV所在地:更新时间:2025-05-05 在线留言详细摘要: 采用折射原理设计的数显高精度光学仪器。小巧美观,使用方便,能够轻松地放入口袋。LCD大屏幕液晶数字显示,只要将一滴样品溶液置于棱镜上,会在3秒之内显示,可以避免...
产品型号:WZB所在地:更新时间:2025-05-05 在线留言详细摘要: WYA-Z自动阿贝折射仪是能测量透明、半透明液体的折射率nD和糖溶液的质量分数(Brix)的仪器。具有友好的操作界面、自动测量、测试速度快、重复性好、体积小巧,...
产品型号:AB006所在地:更新时间:2025-05-05 在线留言详细摘要: WYA-ZT自动阿贝折射仪是测量透明、半透明液体的折色率nD和糖溶液的质量分数(Brix)、葡萄糖、F42、F55糖浆的质量分数,果汁、蔬菜、软饮料、罐头制品的...
产品型号:AB004所在地:更新时间:2025-05-05 在线留言详细摘要: 技术参数符合GB2410-2008 ASTM D1003-61(1997) JIS K7105-81等测试标准,有利于国内外技术交流。采用平行照明,半球散射,积...
产品型号:WGT-S所在地:更新时间:2025-05-05 在线留言详细摘要: WSL-2比较测色仪(色辉计)是一种目视颜色测量仪器,它采用了的专用色标一罗维朋色标度来测量各种液体、胶体、固体和粉末样品的色度。该仪器具有结构简单,操作便利的...
产品型号:WSL-2所在地:更新时间:2025-05-05 在线留言详细摘要: 本仪器采用非接触、光学相移干涉测量方法,测量时不损伤工件表面,能快速测得各种工件表面微观形貌的立体图形,并分析计算出测量结果。适用于测量各种量块、光学零件表面的...
产品型号:WGL所在地:更新时间:2025-05-05 在线留言您感兴趣的产品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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