香港皆能（亚洲）有限公司北京代表处
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HD Prime分析仪采用XOS*的高清晰光谱技术，测量玩具、儿童产品和消费品中的铅以及多种受限重金属元素，符合CPSIA等指令和规范。可分别测出产品基材和涂层中有毒元素的微量成分，可进行小面积分析，可拍摄样品或分析区域的高分辨率图片
产品名称：台式高清X射线荧光光谱仪
产品型号：HD Prime
产品产地：美国
工作原理：
HD Prime采用XOS的高清晰光谱技术—双弯晶面 （DCC）反射镜，确保了测量的精确性和准确性。多个DCC透镜截获来自X光管的X白光束，并选定几个不同能量的光束，聚焦成很强的束斑，打在被测样品表面。HD光谱分析仪可从低能到高能范围内选择单色激发束，使用户能分别定量分析涂层和基底内有毒元素的成份。HD光谱分析仪采用单色激发束可消除荧光峰下的散射背景噪音，从而大大改善元素探测极限。由于这种技术采用聚焦束激发样品，对于直径为1mm的样品分析面积，其灵敏度远远高于采用准直器来减小束斑的分析仪。
仪器应用：
ü 玩具和儿童产品中多种有毒元素测量，符合CPSIA规定的要求
ü 快速准确地定性定量分析有毒元素
ü 使用场合：工厂的生产线上和实验室，第三方检测实验室，零售商，检测部门
ü 符合ASTM F2853和F2617标准
仪器性能：
ü 测定有毒元素（Pb，Sb，As，Ba， Cd，Cr，Hg，Se，Br 和 Cl）
ü HD Prime可分别测出产品涂层和基材中有毒元素的成份
ü 直径为1 mm的小面积分析, 能检测不规则形状样品
ü 使用方便, 可供工厂, 实验室使用, 只需短至2小时的培训
ü 不需要样品前处理: 无须剥离和浸煮涂层, 不破坏产品结构
ü 定性检测模式, 提供有毒元素快速检测
ü 定量检测模式: 精确地测量涂层和基底材料中的元素成分
检测极限：
| LOD in ppm – 3 s | Pb | Cd | Cr | As | Br | Sb | Se | Hg | Ba | Cl |
| 塑料基底 | 8 | 2 | 2 | 8 | 1 | 5 | 1 | 1 | 100 | 100* |
| PVC基底 | 1 | 2 | 5 | 1 | 1 | 5 | 1 | 2 | 100 | N/A |
| 塑料上涂层 | 5 | 10* | 15 | 5 | 5 | 15* | 5 | 8 | 200 | 150* |
| 金属基底 | 10 | 5 | 30 | 10 | N/A | 10 | 5 | 10 | 200 | N/A |
| 金属上涂层 | 8 | 10* | 15 | 8 | 5 | 15* | 5 | 10 | 200 | 150* |
* 较长的测量时间
技术规格：敬请
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