北京航天伟创设备科技有限公司
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LDJD系列介电常数测试仪是利用高频Q表法在较高的频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值、电感的电感量和分布电容值、电工绝缘材料的高频介质损耗、高频回路有效并联及串联电阻以及传输线的特性阻抗等。
LDJD-B介电常数测试仪在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。
适用标准
GB/T 1409-2006 《测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法》（等效IEC 60250：1969）
GB/T 1693-2007 《硫化橡胶 介电常数和介质损耗角正切值的测定方法》
ASTM D150 《Standard Test Methods for AC Loss Characteristics and Permittivity (Dielectric Constant) of Solid Electrical Insulation》
LDJD-B介电常数测试仪主要参数：
*1.信号源: DDS数字合成信号 10kHZ-70MHZ
*2.信号源频率精度3×10-5 ±1个字,6位有效数
3．Q值测量范围：1～1023
4．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档；
*5．电感测量范围：1nH～8.4H 自身残余电感和测试引线电感的自动扣除功能
*6．电容直接测量范围：1pF～2.5uF
*7．主电容调节范围：30～540pF
8.准确度 150pF以下±1pF；150pF以上±1%
9．信号源频率覆盖范围10kHz～70MHz
10．合格指示预置功能范围：5～1000
11．环境温度：0℃～+40℃；
12．消耗功率：约25W；电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。
13. S916（数显）介电常数εr和介质损耗因数tanδ测试装置：
数显式微杆
平板电容器：
极片尺寸： 38mm
极片间距可调范围：≥15mm
夹具插头间距：25mm±0.01mm
夹具损耗正切值≤4×10－4 （1MHz）
测微杆分辨率：0.001mm
测试极片：材料测量直径Φ38mm厚度可调 ≥ 15mm
*液体杯：测量极片直径 Φ38mm； 液体杯内径Φ48mm 、深7mm
14. 电感组LKI-1：
分别由0.1μH、0.5μH、2.5μH、10μH、50μH、100μH、1mH、5mH、10mH九个电感组成。
15. 主机尺寸：（宽×高×深）mm：380×132×280
16. 重量约：7KG
产品特点
北京航天伟创设备科技有限公司新研制的产品，它以DDS数字直接合成方式产生信号源，频率范围达10kHZ-70MHZ，信号源具有信号失真小、频率精确、信号幅度稳定的优点，更保证了测量精度的精确性。LDJD-B主电容调节用传感器感应，电容读数精确,且频率值可设置。
LDJD-B型介电常数及介质损耗测试仪的电容、电感、Q值、频率、量程都用数字显示，在某一点频率下，只要能找到谐振，都能直接读出电感、电容值，大大扩展了电感的测量范围，而不再是固定的几个频率下才能测出电感值的大小。LJD-B的谐振点频率自动搜索或电容自动搜索功能，能帮助你在使用时快速地找到被测量器件的谐振点，自动读出Q值和其它参数。Q值量程可手动或自动转换。
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