亚铭（北京）科技有限公司
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高频（微波）介电常数测试仪（TM空洞共振腔）
仪器简介：
日本AET微波(高频)介电常数测试仪, 利用微波技术结合高Q腔以及3D电磁场模拟技术，采用德国CST公司的3D电磁类比软件MW-StudioTM，测量材料的高频介电常数，此方法保证了介电常数测量结果的精确性。
AET公司开发了二种共振腔：空洞共振腔和开放式同轴共振腔用于测试环境腔.
技术参数：
可测试频率范围： 1G-18GHz
介电常数Epsilon：1-30， 准确度： ±1%，
介电损耗tangent delta：0.05-0.0001， 准确度：±5%
拥有多种腔体，每个腔可测一个频点:
主要特点：
空洞共振腔（Cavity Resonator ），适用于CCL/印刷线路板，薄膜等非破坏性低介电损耗材料量测。
应用领域：
高速数字/微波电路用基底材料 ；滤波器和介电天线用低损耗电介质 ；化学制品；
薄膜与新材料；半导体材料；电子材料（包括CCL和PCB）
陶瓷材料；纳米材料；光电材料等
相关资料
·日本AET高频（微波）介电常数分析仪
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