详细摘要： ContourSP 大面板计量系统融合了十余年封装光学表征专业技术，使高密度互连 PCB（HDI-PCB）基板的测量效率比上一代白光干涉（WLI）仪器增加了一倍...
产品型号：所在地：深圳市更新时间：2022-11-01 在线留言深圳市科时达电子科技有限公司
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详细摘要： NPFLEX 三维计量系统，为骨科医疗植入物等大型样品以及航空航天业、汽车业和精密加工业的大型零部件提供超灵活非接触式三维区域表面表征。该系统的数据密度、分辨...
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详细摘要： The Hysitron PI 89 扫描电镜联用纳米压痕仪利用扫描电子显微镜（SEM、FIB/SEM）的成像能力，可以在成像的同时进行定量纳米力学测试。这套全...
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详细摘要： 布鲁克的Hysitron IntraSpect 90是一种原位压痕系统，专门设计用于在变形过程中实时观察物理化学变化。该系统与现有显微镜集成，在压痕、拉伸、压缩...
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详细摘要： Using the ForceRobot® overcomes the limitations of traditional force measure...
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详细摘要： The NanoRacer® High-Speed AFM marks a quantum leap in quantitative imaging c...
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详细摘要： Dimension FastScan Bio 原子力显微镜 （AFM） 可实现生物动力学的高分辨率研究，实时样品观测的时间分辨率高达每秒 3 帧。更重要的是，它...
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详细摘要： Dimension FastScan® 原子力显微镜 （AFM） 系统经过专门设计，在不降低分辨率、不失去力控制、不增加设备复杂性，不带来繁琐操作的前提...
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详细摘要： SKYSCAN 1272 CMOS 版建立在值得信赖的 SKYSCAN 1272 桌面 X 射线显微镜平台上，并结合了的 X 射线技术，将 XRM 提升到一个新...
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