成都中盛兴业科技有限公司
信号质量分析仪-RMP1900A为了满足在智能手机和移动终端普及下迅速膨胀的数据流量,数据中心网络接口正转向成为更快的200GbE,400GbE和800GbE标准
MP1900A
为了满足在智能手机和移动终端普及下迅速膨胀的数据流量,数据中心网络接口正转向成为更快的200 GbE, 400 GbE 和800 GbE标准。通信设备互连不但已开始采用支持速度更快且高达64 GT/s的PCI Express Gen6,也开始采用了多通道技术。
安立的信号质量分析仪-R MP1900A系列是一款具备8个模块插槽的高性能BERT,通过PPG/ED、及抖动/噪声发生器等扩展测量应用,从而支持更快速度设备以进行信号完整性分析。除了针对宽带网络接口的物理层测量功能外,一体化的MP1900A还支持了PCI Express总线等接口的测量。
支持应用
100 GbE / 200 GbE / 400 GbE / 800 GbE,CEI-25G / 28G / 56G / 112G,InfiniBand EDR / HDR,光纤通道,PCI Express Gen1/2/3/4/5/6,Thunderbolt 1/2/3,USB3 .2 / 4 Type C,SAS-3 / -4,DP1.4,光模块,SERDES,AOC,高速互连
PAM4测试方案
*1: ED(超過32.1 G)將來會得到支持
*2: 符合CEI標準的PAM 4波形輸入了的时候
PAM4 Solution (Max. 64 Gbaud at 1CH)
高速串行總線接口測試解決方案 (PCI Express, USB, Thunderbolt)
NRZ Solution (Max. 32 Gbit/s at 1ch)
项目 | 规格 |
---|---|
LCD显示屏 | 12.1英寸,WXGA 1280 x 800 |
远程接口 | GPIB、LAN |
模块插槽 | 8 |
外围设备I/F | USB x6,VGA x1,HDMI x1 |
操作系统 | Windows Embedded Standard 7 |
功率 | 100 Vac至120 Vac /200 Vac至240 Vac 50 Hz至60 Hz |
功耗 | 1350 VA |
尺寸和重量 | 340 (W) x 222.5 (H) x 451 (D) mm/20 kg (不含模块) |
项目 | 规格 |
---|---|
通道数 | 2 |
插入损耗 | -3 dB |
CMI | 0.1 GHz至1 GHz/1 GHz至6 GHz |
DMI | 2 GHz至10 GHz |
白噪声 | 10 MHz至10 GHz |
波峰因数 | >5 |
Item | Specification |
---|---|
Operation Rate (PAM4/NRZ) | 2.4 Gbaud to 32.1/58.2/64.2 Gbaud (option selection) |
No. of Channels | 1 |
Output Amplitude | 70 mVp- to 800 mVp-p (Single-end) 140 mVp- to 1600 mVp-p (Differential) |
Offset | -2 V to +3.3 V |
Emphasis | 4 Tap, -20 to +20 dB |
Channel Emulator | Generates waveform with insertion loss and simulates waveform with corrected insertion loss Set by loading S-Parameter file (S2 P, S4 P) |
ISI | Simulates ISI generation waveform Set using loss (–8.00 to 8.00 dB) at CEI-specified Nyquist frequency Used in combination with channel board, such as J1800A/J1758A (optional accessories parts), or Noise Module MU195050A |
Independently Variable PAM4 3 Eye | 20 to 50% (PAM4 Amplitude 0/3 level = 99%) |
PAM4 Pattern | SSPRQ, PRBS13Q, PRBS31Q, RS-FEC, etc. |
PAM4 Pattern Error Addition | MSB Error, LSB Error, LSB&MSB Error, RS-FEC Symbol Error |
Tr/Tf (20 to 80%) | 8.5 ps (typ., NRZ) |
Random Jitter | 170 fs rms (typ., NRZ) |
I/O Connector | V (f) |
Item | Specification |
---|---|
Operation Rates (PAM/NRZ) | 2.4 to either 32.1 Gbaud, or 58.2 (PAM4)/64.2 (NRZ) Gbaud (option selection) |
No. of Channels | 1 |
Input Amplitude | NRZ: ≤32.1G: 0.05 to 1.0 Vp-p; >32.1G: 0.1 to 1.0 Vp-p PAM4: ≤32.1G: 0.3 to 1.0 Vp-p; >32.1G: 0.4 to 1.0 Vp-p |
Input Sensitivity (Eye Height) | NRZ: 19 mV @ 26.5625 Gbaud; 21 mV @ 53.125 Gbaud PAM4: 23 mV @ 26.5625 Gbaud; 36 mV @ 53.125 Gbaud |
Clock Recovery (Option) | 2.4 to 32.1 Gbaud; 51 to 58.2 Gbaud |
Equalizer (Option) | Low-frequency Equalizer (≤1 GHz, 2 dB typ.) + DFE (1.4 dB typ.) |
PAM4 Patterns | SSPRQ, PRBS13Q, PRBS31Q, etc. |
PAM4 Counter | MSB, LSB, Symbol 0 to 3 (Option) |
Input Connector | V (f) |
项目 | 规格 |
---|---|
Operation Bit Rate (NRZ) | 2.4 Gbit/s至21 Gbit/s或32.1 Gbit/s |
通道数 | 1或2 |
输出振幅 | 0.1 Vp-p至1.3 Vp-p (单端式) 0.2 Vp-p至2.6 Vp-p (差动式) |
加重 | 10阶 |
Channel Emulator | Normal:从S参数模拟插入损失 Inverse:对S参数的插入损失进行De-Emphasis补偿 S-Parameter file: S2P,S4P |
ISI | 通过CEI-28G/25G的奈奎斯特频率的损失设置模拟输出ISI 通过与应用零部件J1758A ISI Board配套可控制损失 Insertion Loss设置:1.5~25 dB 0.01 dB step @Nyquist Frequency 0~25 dB 0.01 dB step @1/2Nyquist Frequency |
Tr/Tf (20%至80%) | 12 ps (典型值) |
随机抖动 | 115 fs rms (典型值) |
PCI链路训练 | 支持(MX183000A-PL021/PL022/PL025) |
Output Connector | K (f) |
项目 | 规格 |
---|---|
工作比特率 (NRZ) | 2.4 Gbit/s至21 Gbit/s或32.1 Gbit/s |
通道数 | 1或2 |
输入振幅 | 0.05 Vp-p至1.0 Vp-p (单端式) 0.1 Vp-p至2.0 Vp-p (差动式) |
输入灵敏度 (Eye Height) | 15 mV (眼高 28.1 Gbit/s) 30 mV/Eye(28.1 Gbaud, PRBS15, PAM4) |
CTLE | 峰值频率14, 8, 4 GHz 增益0至-12 dB |
时钟恢复 | 是,支持SSC |
PCIe and USB链路训练 | 支持(MX183000A-PL021/PL022/PL025) |
Output Connector | K (f) |
可在MP1900A中使用MP1800A系列模块。 详情请参阅MP1900A选择指南。
PCIe, USB, Thunderbolt Receiver Test Solution
All-in-One PCIe Gen1 to Gen5 Support (UPDATED)
Tektronix and Anritsu Solution
PCI Express 5.0 Test System
High Speed PAM4 BER Measurement Solution
Teledyne LeCroy and Anritsu Solution
PCI-Express and Type-C Interface Test System
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