U4164A 逻辑分析仪拥有高数据速率状态模式（高达 4 Gb/s）、深迹线时序模式（高达 10 GHz）以及深存储器（高达 400 Mb），能够验证和调试数据速率超过 3.5 Gb/s 的 DDR4 或 LPDDR4 器件。
选件拥有高达 4 Gb/s 的状态模式和 10 GHz 定时模式
Keysight U4164A 逻辑分析仪系统将可靠的数据采集与强大的分析和验证工具相结合，帮助您充满信心地快速验证和调试高速数字设计，这些设计的运行速度可以高达 4 Gb/s。 U4164A 逻辑分析仪模块提供以下功能，帮助您执行测量并获得其他逻辑分析仪无法获得的洞察力
U4164A 逻辑分析仪模块拥有两种工作模式：四倍采样状态模式和 10 GHz 1/4 通道时序模式。 使用四倍采样状态模式，可以从每路输入的单一探测点，在两个独立调节阈值上对 4 个不同位置进行采样。
四倍采样状态模式意味着探测高数据速率信号（例如 DDR4、DDR5、LPDDR4 和 LPDDR5）所需的空间更少，这些信号需要不同的采样位置来读取和写入数据，并为大于 2.5 Gb/秒的数据速率分离上升沿/下降沿样本。 四分之一通道（10 GHz）定时模式可以为每个输入提供高达 1.6 Gb 的样本。 除了新的工作模式外，U4164A 逻辑分析仪模块还拥有多项新特性，帮助高速数字和 DDR/LPDDR 存储器设计工程师加快系统启动和调试速度。 U4164A的特性包括时序模式偏移校正控制、双采样状态模式双阈值、时钟滞后控制（该特性可以调整状态模式的噪声灵敏度）以及业界出色的存储器深度选件（400 Mb 全通道，800 Mb 半通道，1.6 Gb 1/4 通道）。
为了从 U4164A 迹线捕获中获得更深的洞察力，B4661A 存储器分析软件提供了工具，利于加速 DDR/2/3/4/5 和 LPDDR/1/2/3/4/5 测量的设置和配置；还提供各种已获许可的选件，用于 DDR/2/3/4/5、LPDDR/1/2/3/4/5 和 ONFi（开放式 NANAD 闪存接口）存储器分析和一致性验证。
- 状态速度模式选件的速率高达 4 Gb/s
- 使用四倍采样状态模式，可以从单个探测点的两个不同阈值进行四个采样
- 状态模式的时钟滞后设置
- 高达 10 GHz 的全存储器深度时序模式
- 高达 400 Mb 的内存深度选件（400 Mb 全通道时序、800 Mb ½ 通道时序、1.6 Gb ¼ 通道时序）
- 时序模式的偏移校正接口
- 眼图扫描技术，扫描增量高达 5 ps x 5 mV
- 12.5 GHz，256K 深度定时缩放
