深圳市测源电子仪器有限公司
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美国泰克半导体器件高精度测量 产品型号：TEK370A 简介：美国泰克 TEK370A 半导体器件高精度测量美国泰克 TEK370A 半导体器件高精度测量
美国泰克 TEK370A 半导体器件高精度测量
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主要参数：·半导体器件高精度测量
-上限达2000V或电流到10A的源（370A）
-上限到3000V（371A）
-上限到220W（370A）
-上限到400A（371A）
-1nA的测量分辨率
-上限到3000W（371A）
·上限到2mV的测量分辨率（370A）
·波形对比
·包络显示
·波形平均
·点光标（370A）
·Kelvin传感测量
·全程控
·MS-DOS兼容的软盘，方便设置参孝存储和调用
应用
手动或自动进行半导体高分辨率DC参数测量
来料检查
生产测试
过程监视及质量控制
数据报告的生成
元件配对
失效分析
工程测试
交互式程控
所有交互式程控测量是通过有鲜明特点的前面板或GPIB来完成的。使用几种存储方式，调整和存储操作参数，包括370A的非
易失存储器、内置的MS-DOS兼容的软盘或到外部控制器。
测试夹具
测试夹具是标准附件，它提供被测器件**防护，以保护测量人员的**。测试夹具适应标准的A1001，中间通过Kelvin传
感的A1005适配器、无Kelvin传感的3芯适配器和A1023、A1024表面封装适配器。
370A程控特性曲线图示仪
370A是有名的高分辨率特性曲线图示仪，可应用到许多场合。370A能完成晶体管、闸流管、二极管、可控硅、场效应管
、光电元件、太阳能电池、固态显示和其它半导体器件的直流参数特性的测试。
在研发实验室，用370A来完成新器件、SPIEC参数的提取、失败分析和产生数据报告这些具体的测试工作
在制造过程中，用370A检验器件质量及过程监视。
370A可进行来料检查、器件性能测试、失效分析和器件配对这些测试工作。
技术指标 集电极电源 模式 AC,±DC,±泄露，±整流的正弦波 范围 *大峰值电流（±） 峰值电流（脉冲式）（±） 16V 10A 20A 80V 2A 4A 400V 0.4A 0.8A 2000V 0.05A 0.1A 阶梯信号发生器 模式 阶梯：DC,80μS脉冲，300μS脉冲 阶梯量程- 电流： 50nA到200mA，按1-2-5顺序 电压： 50mV到2V，按1-2-5顺序 偏置 *大到±10X阶梯幅度 阶梯数 0到10 测量特性 集电极电流- 测试量程： 100nA/div(1nA分辨率）至2A/div误差，1.5%光标读出 0.05div设定值（点光标） 发射极电流- 测试量程： 1nA/div(10pA分辨率）至2mA/div 误差 1.5%光标读出 0.05div设定值 1nA **标准 UL1244，CSA231，HD401S1
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