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组合荧光系统采用模块化设计，既可实现稳态、瞬态测量，又能实现UV-VIS-MIR的宽范围测 量。组合荧光系统多种部件可供选择（光源、探测器、样品架、变温模块等）...
OPTM 系列显微分光膜厚仪 测量项目：•绝*反射率测量•多层膜解析•光学常数分析（n：折射率，k：消光系数）
OP-AI系列气浮隔振光学平台• 固有频率：＜1.2～2Hz• 重复定位精度：±0.10mm• 台面材料：SUS430高导磁不锈钢• 台面厚度：100...
半导体参数分析仪型号有Keysight B1500A系列、Keithley 4200系列
网络分析仪主要特性和功能：· 具有紧凑型频率扩展器的单次扫描解决方案· 可以作为单个产品解决方案一次性购买· 对器件施加精确的调平功率，进行功率扫描· 提供各种...
组合荧光系统采用模块化设计，既可实现稳态、瞬态测量，又能实现UV-VIS-MIR的宽范围测 量。组合荧光系统多种部件可供选择（光源、探测器、样品架、变温模块等）...
OPTM 系列显微分光膜厚仪 测量项目：•绝*反射率测量•多层膜解析•光学常数分析（n：折射率，k：消光系数）
OP-AI系列气浮隔振光学平台• 固有频率：＜1.2～2Hz• 重复定位精度：±0.10mm• 台面材料：SUS430高导磁不锈钢• 台面厚度：100...
半导体参数分析仪型号有Keysight B1500A系列、Keithley 4200系列
网络分析仪主要特性和功能：· 具有紧凑型频率扩展器的单次扫描解决方案· 可以作为单个产品解决方案一次性购买· 对器件施加精确的调平功率，进行功率扫描· 提供各种...
组合荧光系统采用模块化设计，既可实现稳态、瞬态测量，又能实现UV-VIS-MIR的宽范围测 量。组合荧光系统多种部件可供选择（光源、探测器、样品架、变温模块等）...
OPTM 系列显微分光膜厚仪 测量项目：•绝*反射率测量•多层膜解析•光学常数分析（n：折射率，k：消光系数）
OP-AI系列气浮隔振光学平台• 固有频率：＜1.2～2Hz• 重复定位精度：±0.10mm• 台面材料：SUS430高导磁不锈钢• 台面厚度：100...
半导体参数分析仪型号有Keysight B1500A系列、Keithley 4200系列
网络分析仪主要特性和功能：· 具有紧凑型频率扩展器的单次扫描解决方案· 可以作为单个产品解决方案一次性购买· 对器件施加精确的调平功率，进行功率扫描· 提供各种...
组合荧光系统采用模块化设计，既可实现稳态、瞬态测量，又能实现UV-VIS-MIR的宽范围测 量。组合荧光系统多种部件可供选择（光源、探测器、样品架、变温模块等）...
OPTM 系列显微分光膜厚仪 测量项目：•绝*反射率测量•多层膜解析•光学常数分析（n：折射率，k：消光系数）
OP-AI系列气浮隔振光学平台• 固有频率：＜1.2～2Hz• 重复定位精度：±0.10mm• 台面材料：SUS430高导磁不锈钢• 台面厚度：100...
半导体参数分析仪型号有Keysight B1500A系列、Keithley 4200系列
网络分析仪主要特性和功能：· 具有紧凑型频率扩展器的单次扫描解决方案· 可以作为单个产品解决方案一次性购买· 对器件施加精确的调平功率，进行功率扫描· 提供各种...
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