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叶片光谱探测仪

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更新时间:2025-03-31 09:39:50浏览次数:19次

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产品简介

叶片光谱探测仪叶片光谱探测仪CI-710系列之叶片光谱分析仪CI-710功能强大,可以非破坏性测量叶片的透射光、吸收光、反射光光谱

详细介绍

叶片光谱探测仪

 

   叶片光谱探测仪CI-710系列之叶片光谱分析仪CI-710功能强大,可以非破坏性测量叶片的透射光、吸收光、反射光光谱;通过光谱可以定性、定量的研究叶片内各组分叶绿素ab、蛋白质、糖、矿物质等含量及比例变化;直观的光谱图像和现场数据存储;为植物叶片光合作用、植物遗传特性、植物胁迫生理、植物病理等方面研究提供了迅捷的手段。

仪器特性
非常便携,适合于室内或野外使用
非破坏灵敏度高
USB接口连接UMPC数据处理终端
样品类型,叶片或扁平的物体
技术参数
测量参数:非破坏性测量叶片在400~1000nm波 长范围内的透射率、吸收率和反射率
样品类型:叶片或扁平的物体
检测器:CCD线性阵列探测器
扫描波长范围:400~1000 nm 
采样速度:3.8ms-10s
光偏离:<0.05%在600nm;0.10%在435nm
分辨率:0.3~10.0nm FWHM
采样直径:7.6 mm
线性修正:>99.8%
*配有CI-700LP叶夹
尺寸:89.1 x 63.3 x 34.4 cm
*重量:290G
产地:美国CID公司
 

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