秦思肯 XEIA3 model 2016 高分辨扫描电子显微镜是一款的能实现综合性能的一体化FIB-SEM。秦思肯 XEIA3 model 2016 高分辨扫描电子显微镜具备了各种强大的应用功能，如快捷的微纳米FIB加工，超高分辨率可靠分析或复杂的3D重构分析等。TESCAN不仅提供秦思肯 XEIA3 model 2016 高分辨扫描电子显微镜这类型的仪器设备，也同时致力于推动科学研究的前沿发展。TESCAN的定制系统能满足各类客户的具体需求，从材料科学到生命科学，从材料工程到半导体行业，TESCAN的设备一直都表现出高性能的特点。
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秦思肯 XEIA3 model 2016 高分辨扫描电子显微镜主要特点：新开发的配备TriglavTM物镜及*探测系统的高分辨扫描电子显微镜；的无交叉模式及超高分辨率物镜的组合，以获得良好的成像模式*可变的探测系统能同时获得各种信号；超高纳米分辨率：0.7nm@15keV；极限分辨率：1nm@1keV；角度选择BSE探测器能在低束能下获得的形貌及元素衬度；实时电子束追踪技术TM能优化电子束性能；传统的TESCAN大视野光学器件™设计提供各种工作和显示模式；EquiPower™提供了优秀的电子束稳定性；新的肖特基场发射电子枪能使电子束流达到400nA以及实现电子束能量的快速改变；的探测技术可应用于*的失效分析过程中；易损生物样品的成像；磁性样品的成像；优化的几何镜筒分布能够获得8’’晶圆分析手段（SEM探测，FIB微加工）；3D电子束技术的立体成像；友好的用户界面，成熟的软件模块和自动化程序
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