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XPR-300C熔点仪

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更新时间:2024-01-05 09:00:46浏览次数:27次

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产品简介

一、产品简介XPR-300型透射偏光熔点测定仪是地质、矿产、冶金、石油化工、化学纤维、半导体工业以及药品检验等部门和相关高等院校的高分子...等专业的专业实验仪器

详细介绍

一、产品简介
XPR-300型透射偏光熔点测定仪是地质、矿产、冶金、石油化工、化 学纤维、半导体工业以及药品检验等部门和相关高等院校的高分子...等专业的专业实验仪器。可供广大用户作单偏光观察,正交偏光观察,锥光观察以及显微摄影,来观察物体在加热状态下的形变、色变及物体的三态转化。
本系统广泛应用于高分子材料、聚合物材料等化工领域,适用于研究物体的结晶相态分析、共混相态分布、粒子分散性及尺寸测量、结晶动力学的过程记录分析、液晶分析、织态结构分析、熔解状态记录观察分析等总多研究方向。
偏光显微熔点测定仪XPR-300系统汇集了光电、模式识别、精密加工、图象学、自动控制、模量学等总多研究领域的当前技术,多年研究开发的结果,在国内享有.本仪器的具有可扩展性,可以接计算机和数码相机。对图片进行保存、编辑和打印。
二、技术指标
1.显微镜技术参数:

名称
规格
总放大倍数:
40X---630X
无应力消色差物镜
4X/0.1
10X/0.25
25X/0.40
40X/0.65 弹簧
63X/0.85 弹簧
目镜
10X 十字目镜
10X 分划目镜
试片
石膏 1λ 试片
云母 1/4λ 试片
石英楔子试片
测微尺
0.01mm
滤色片
蓝色
带座目镜网络尺
移动尺
移动范围 30mm×40mm
镜筒
三目观察
2.熔点仪技术参数:

热台组成
性能
显微精密控温仪

   在 20倍物镜下工作温度可达到300 ℃ 、温度运行程序全自动控制;温度程序段由用户自行设定, 30段温度编程,循环操作,能准确反映设定温度、炉芯温度、样品的实际温度。每段设定起始温度,及在该段内可维持时间,升温速率可调、精度 ± 0.3 ℃、记忆点读数
显微加热平台
可以随载物台移动、工作区加热面积大、透光区域可调、工作区温度梯度低于± 0.1
· 起始温度室温
·工作区加热使用面积至少 1X1厘米
· 工作区温度梯度不超过 ± 0.1
· 透光区域 2mm以上,可调
· 显示温度与实际温度误差不超过 ± 0.2
· 热台可以随载物台移动
在加热状态下可使用 20倍物镜
注意: 熔点测定(温度超过100度时,25X的物镜工作距离
太近,容易损坏镜头,请选用长工作距离的物镜25X、40X的物镜)


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