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MarSurfXC2轮廓测量仪

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更新时间：2023-01-29 09:42:41浏览次数：100次

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武汉上材科技有限公司

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产品简介

精密轮廓测量入门之选测量和评估工件和工具上与功能相关的几何参数是研究、设计和工业的基本要求。相对其他方法，快速、简单而经济的 2D 轮廓测量系统受到越来越多的青睐。MarSurf XC 2 可满足精度和评估标准范围相关的各方面需求。同时，它还能提供**而可靠的结果。利用相关元件，更换基准元件后可立即对基准元件相关的参数重新计算。密码保护用户访问权限，避免不当使用以多年经验为基础的出色校准流程，包括几何形状校准、测量力校准、弯曲补偿等等稳定、坚固的测头平滑运行，稳定而准确的驱动装置根据各种调整速度自动降低和抬高测杆高定位精度砖利测杆固定技术，防碰撞保护

详细介绍

技术数据

接触速度（Z 方向）	0.1 至 1 mm/s
测杆长度	175 mm, 350 mm
测量速度（文本）	0.2 mm/s 至 4 mm/s
针尖半径	25 µm
扫描长度末尾（X 方向）	120 mm
分辨率	Z 方向，相对探针针头：0.38 µm（350 mm 测杆）/ 0.19 µm（175 mm 测杆）在 Z 方向，相对于测量系统：0.04 µm
扫描长度开始（X 方向）	0.2 mm
取样角	在平滑表面上，取决于偏差：后缘高至 88°，前缘高至 77°
定位速度（文本）	X 方向返回速度：0.2 至 8 mm/s Z 方向：0.2 至 10 mm/s
导块偏差	< 1 µm（超过 120 mm）
测量范围 mm	（Z 方向）50 mm
扫描长度（文本）	0.2 mm 至 120 mm
测量力 (N)	1 mN 至 120 mN