上海斯迈欧分析仪器有限公司
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赛默飞辉光放电质谱仪ELEMENT GD Plus具有固定宽度的低、中、高分辨率狭缝，采用高分辨率可直接分析有质谱干扰的同位素
赛默飞辉光放电质谱仪ELEMENT GD Plus结合了辉光放电离子源和双聚焦高分辨率质量分析器，可以定性定量分析固体样品中包括C、N、O在内的几乎所有元素，是直接、快速分析高纯样品杂志含量和镀层材料元素组成的工具。
赛默飞辉光放电质谱仪ELEMENT GD Plus集中了辉光放电和高分辨质谱的优势，在以下方面有杰出表现：
· 样品测试通量高：ELEMENT GD离子源和样品夹的设计使可缩短换样和分析时间，显著提高生产率；
· 检测器线性范围宽：检测器线性范围达12个数量级，可一次扫描同时检测基体和痕量元素组成；
· 具有固定宽度的低、中、高分辨率狭缝，采用高分辨率可直接分析有质谱干扰的同位素。
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