X荧光光谱仪Thick800A能分析单镀层、双镀层、合金镀层等多种镀层类型的厚度，精确度达到0.01μm，同时镀层分析能力多达5层。THICK 800采用上照式设计，通过三维移动和激光定位，可实现对大件部件的镀层厚度和含量的无损、快速测定。
Ｘ荧光光谱仪Thick800A的技术参数：
1. 金属镀层检出限：0.01μm
2. 同时镀层分析能力：5层
3. 元素分析范围：从钾（K）到铀（U）。
4. 多次测量重复性可达：0.01μm
5. 长期工作稳定性为：0.1μm（5μm左右单镀层样品）
6. 输入电压：220±5V/50HZ（建议配置交流净化稳压电源）
7. 环境温度:15℃—30℃
8. 环境湿度：35%—70%
9. 样品腔面积: 517 mm×352mm×150mm
10. 外形尺寸：648mm×490mm×544mm
11. 重量：65Kg
Ｘ荧光光谱仪Thick800A的应用领：
1. 镀层厚度测量
2. 镀层和电镀液含量测定
3. 电镀业
4. 首饰加工
Ｘ荧光光谱仪Thick800A的配置：
1. 正比计数盒探测器/电制冷Si-PIN探测器。
2. 稳定X光管。
3. 内置信噪比增强器可有效提高仪器信号处理能力25倍以上。
4. 针对不同样品选配合适准直器和滤光片。
5. 二维移动样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维移动。
6. 双激光定位装置。
7. 开放式样品腔。
8. 玻璃屏蔽罩。
9. 信号检测电子电路。
10. 高低压电源。
11. 任意多个可选择的分析和识别模型。
12. 相互独立的基体效应校正模型。
13. 多变量非线性回收程序。
14. 智能镀层检测软件，与仪器硬件相得益彰。
