上海首立实业有限公司
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XGT-1000WR荧光光谱仪样品检测仓大、无需更换滤光片（滤波片）、无需样品形状的预处理；厚度自动修正；CL元素自动修正：同轴CCD技术；X射线零外溢；随机携带12块标准样；新增金属镀层测厚功能。
产品介绍
HORIBA X射线荧光光谱仪
XGT-1000WR荧光光谱仪主要技术指标：
1、 分析元素：Si～U（Cd/Pb高精度型）；Na～U（任选：φ1.2 mm/φ0.1 mm切换方式型）
2、 检测精度：Cd/Pb/Hg/Br≤2 ppm, Cr≤5 ppm
3、 检测仓内部尺寸：不超过460×360 mm（高150 mm）
4、X射线照射径：φ1.2 mm（可选：φ1.2 mm/φ0.1 mm 切换）
5、 检测器：高纯硅检测器 XEROPHY
6、 设备重量：约 265 kg（不含桌子、计算机）
7、 外形尺寸：分析部分：610（W）×750（D）×500（H）mm
8、 信号处理部：220（W）×500（D）×480（H）mm
9、可同时测量4层金属镀层的厚度。
HORIBA在能量色散XRF方面的XGT（X射线导向管聚焦）技术实现了微小面积、高X射线能量聚焦测量，确保了微区测量、快速测量、高精度测量。HORIBA XGT1000WR便是一款经典机型。
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