上海拓精工业测定仪器有限公司
X射线荧光测厚仪
X-ray测厚仪原理是根据X-ray穿透被测物时的强度衰减来进行转换测量厚度的,即测量被测钢板所吸收的X射线量,根据该X射线的能量值,确定被测件的厚度。由X射线探测头将接收到的信号转换为电信号,经过前置放大器放大,再由专用测厚仪操作系统转换为显示给人们以直观的实际厚度信号。
X-ray XUL:
X-ray XULM:
X-ray XAN 220/222:
X-ray XAN 250/252:
X-ray XDLM:
X-ray XDAL:
X-ray XDV SDD:
X-ray XDV-µ:
X-ray XUV 733:
X-ray 4000:
X-ray 5000:
X-ray XDL:
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