海拓仪器（江苏）有限公司
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特点加速寿命试验机（HAST）广泛应用于集成电路/微电子/IC等领域，其试验目的是提高环境应力，如温度与工作应力施加给产品的电压/负荷等，加快试验过程，缩短产品或系统的寿命试验时间。用于调查分析被测试样品何时出现的磨耗和使用寿命的问题，使用寿命的故障。分布函数呈现什么样的形状，以及分析失效率上升的原因所进行的试验。
1. 设定温度:105.0～150.0℃
2. 湿度范围:75%RH～99%RH （可选长期做双85 ）
3. 温度上升时间：≤100分钟（从室温到120°且湿度到达85%RH的时间）
4. 温度稳定时间：试验箱触摸屏显示温度稳定后（≤±2℃），5分钟内箱体内温度与目标温度偏差≤±2℃， 10分钟箱内温度整体稳定≤±2℃（空载）
5. 压 力: 压力2kg/cm²
6. 压力工作范围：0.02～0.19MPa/相对压力
7. 时间范围: 0 Hr ～ 999 Hr
8. 加压时间: 0.00 Kg ～ 1.04 Kg / cm²约 45 分
9. 温度偏差：≤±1.5℃（空载）
10. 温度均匀度 : ≤±1.5℃（不带载）
11. 湿度偏差：当湿度≥75%RH、湿度偏差≤±3%RH；
当湿度＜75%RH、湿度偏差≤±5%RH；
12. 试验模式：HUM(不饱和:75%-99%湿度)测试模式/STD(饱和:99%湿度)测试模式
13. 压力波动均匀度 : ±0.1Kg
14. 湿度分布均度：±3 %RH
15. 隔层架：每个箱体配测试钢网（层板），钢网尺寸：≥W240×D400mm，负载：≥10KG，钢网数量：≥1个
16. 噪音：距离设备1M距离 ≤75db
17. 偏压测试端子耐压可达 3000V(选配）测试电压施加端子≥20个/单箱体(单个端子承载电压≥DC120V或电流 ≥1A，总功率≥25W)
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