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Mapping系列光谱椭偏仪是全自动高精度Mapping绘制化测量光谱椭偏仪，配置全自动Mapping运动机构，通过椭偏参数、透射/反射率等参数的测量，快速实现薄膜全基片的膜厚及光学参数自定义绘制化测量表征。
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