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电子显微镜 (SEM/TEM/STEM)
场发射透射电子显微镜 HF-3300
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2022-12-14 08:49:56
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日立的冷场发射电子源和300kV加速电压技术共同打造了超高分辨率成像和高灵敏度分析功能。双棱镜全息技术,空间分辨电子能量损失谱以及高精度平行纳米电子束衍射技术开辟了高效,高精度样品分析的新途径。
图片来源:
https://www.56js.com/gongying/1091194.html
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