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TEJDCS-C绝缘材料的介质损耗测量系统

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  • 公司名称扬州市拓腾电气有限公司
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  • 厂商性质其他
  • 更新时间2024/1/13 10:10:57
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扬州市拓腾电气有限公司是循着改革开放的大潮,顺着*发展的趋势,依托科研单位的技术实力诞生的一体化的企业。本企业立足于现代科技理论与生产实践相结合的基础上,注重人才质量,讲究集约开发,聚集了一批具有学位的高水平研究人员和应用技术人才,不断研制、开发大批新颖、优质、完善的仪器仪表产品,以服务于生产、奉献于用户。目前在电力测试技术领域内已开发、生产出输电路检测仪器仪表、计算机软件等系列产品,其中不少产品以其高质量和优良性能,深得广大用户信赖。实践表明,本企业开发的产品和正在进行的科研、科技成果推广项目已在电力工程建设、电力生产和其它领域内发挥了显著的作用。为了进一步适应经济建设发展的需要,满足电力生产的需求,我们将保持和发扬“更新、更完善”的企业精神,热忱地为广大用户服务。人才——坚持内引外联 创建高效团体技术——强大院校后盾 跻身行业前沿平台——*实验装备 专业产业基地使用——振兴民族工业 合作共同发展 我们的承诺为了确保您的利益,保证售后服务的实施,请用户订购产品一律使用正式合同单,为维护本公司和广大用户朋友间广泛长久的良好关系,本公司郑重承诺:凡我公司制造或通过本公司订购的任何产品,一年内无条件免费实行退、换、修三保证,并终生享受售后服务。
TEJDCS-C绝缘材料的介质损耗测量系统由S916测试装置(夹具)、TEJDCS-B/TEJDCS-C介电常数及介质损耗测试仪、数据采集和tanδ自动测量控件(装入TEJDCS-B/TEJDCS-C介电常数及介质损耗测试仪)、及LKI-1型电感器组成,它依据国标GB/T 1409-2006、美标ASTM D150以及电工委员会IEC60250的规定设计制作。
TEJDCS-C绝缘材料的介质损耗测量系统 产品信息

高频介质损耗测试系统由S916测试装置(夹具)、TEJDCS-B/TEJDCS-C介电常数及介质损耗测试仪、数据采集和tanδ自动测量控件(装入TEJDCS-B/TEJDCS-C介电常数及介质损耗测试仪)、及LKI-1型电感器组成,它依据国标GB/T 1409-2006、美标ASTM D150以及电工委员会IEC60250的规定设计制作。系统提供了绝缘材料的高频介质损耗角正切值(tanδ)和介

【详细说明】

 

  高频介质损耗测试系统由S916测试装置(夹具)、TEJDCS-B/TEJDCS-C型介电常数及介质损耗测试仪、数据采集和tanδ自动测量控件(装入TEJDCS-B或TEJDCS-C)、及LKI-1型电感器组成,它依据国标GB/T 1409-2006、美标ASTM D150以及电工委员会IEC60250的规定设计制作。系统提供了绝缘材料的高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)自动测量的zui*解决方案。

1、《S916介质损耗装置》(测试夹具)是测试系统的核心检测部件,它由一个LCD数字显示的微测量装置和一对经精密加工的、间距可调的平板电容器极片组成。平板电容器极片用于夹持被测材料样品,微测量装置则显示被测材料样品的厚度。通过被测材料样品放进平板电容器和不放进样品时的Q值变化的量化,测得绝缘材料的损耗角正切值。从平板电容器平板间距的读值变化则可换算得到绝缘材料介电常数。S916介质损耗测试装置是本公司zui*研制的更新换代产品,精密的加工设计、精确的LCD数字读出、一键式清零功能,克服了机械刻度读数误差和圆筒形电容装置不可避免的测量误差。

2

2、基于串联谐振原理的《TEJDCS-B/TEJDCS-C介电常数及介质损耗测试仪》是测试系统的二次仪表,其数码化主调电容器的创新设计代表了行业的zui高成就,随之带来了频率、电容双扫描(TEJDCS-C)的全新搜索功能。该表具有的人机界面,采用LCD液晶屏显示各测量因子:Q值、电感L、主调电容器C、测试频率F、谐振趋势指针等。高频信源采用直接数字合成,测试频率10KHz-60MH或200KHz-160MHz,频率精度高达1×10-6。国标GB/T 1409-2006规定了用Q表法来测定电工材料高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε),把被测材料作为平板电容的介质,与辅助电感等构成串联谐振因子引入Q表的测试回路,以获取zui高的测试灵敏度。因而Q表法的测试结果更真实地反映了介质在高频工作状态下的特征。

   TEJDCS-B/TEJDCS-C介电常数及介质损耗测试仪的全数字化界面和微机控制使读数清晰稳定、操作简便。操作者能在任意点频率或电容值的条件下检测Q值甚至tanδ,无须关注量程和换算,摒弃了传统Q表依赖面板上印制的辅助表格操作的落后状况,它无疑是电工材料高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)测量的理想工具。

4

3、数据采集和tanδ自动测量控件(装入TEJDCS-B或SBJDS-C),实现了数据采集、数据分析和计算的微处理化,tanδ 测量结果的获得无须繁琐的人工处理,因而提高了数据的精确度和测量的同一性,是人工读值和人工计算*的。

4、一个高品质因数(Q)的电感器是测量系统*的辅助工具,关乎测试的灵敏度和精度,在系统中它与平板电容(S916)构成了基于串联谐振的测试回路。本系统推荐的电感器为LKI-1电感组,共由9个高性能电感器组成,以适配不同的检测频率。

附表一,介质损耗测试系统主要性能参数一览表

S916测试装置

TEJDCS-B/TEJDCS-C介电常数及介质损耗测试仪

平板电容极片Φ50mm/Φ38mm可选频率范围

20KHz-60MHz/200KHz-160MHz

间距可调范围≥15mm频率指示误差

3×10-5±1个字

夹具插头间距25mm±0.01mm主电容调节范围

30-500/18-220pF

测微杆分辨率0.001mm主调电容误差

<1%或1pF

夹具损耗角正切值≦4×10-4 (1MHz)Q测试范围

2~1023

附表二,LKI-1电感组典型测试数据

线圈号

测试频率

Q值

分布电容p

电感值

9

100KHz

98

9.4

25mH

8

400KHz

138

11.4

4.87mH

7

400KHz

202

16

0.99mH

6

1MHz

196

13

252μH

5

2MHz

198

8.7

49.8μH

4

4.5MHz

231

7

10μH

3

12MHz

193

6.9

2.49μH

2

12MHz

229

6.4

0.508μH

1

25MHz
50MHz

233
211

0.9

0.125μH

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