一、产品简介
XPR-300型透射偏光熔点测定仪是地质、矿产、冶金、石油化工、化 学纤维、半导体工业以及药品检验等部门和相关高等院校的高分子...等专业的专业实验仪器。可供广大用户作单偏光观察，正交偏光观察，锥光观察以及显微摄影，来观察物体在加热状态下的形变、色变及物体的三态转化。
本系统广泛应用于高分子材料、聚合物材料等化工领域，适用于研究物体的结晶相态分析、共混相态分布、粒子分散性及尺寸测量、结晶动力学的过程记录分析、液晶分析、织态结构分析、熔解状态记录观察分析等总多研究方向。
偏光显微熔点测定仪XPR-300系统汇集了光电、模式识别、精密加工、图象学、自动控制、模量学等总多研究领域的当前技术，多年研究开发的结果，在国内享有.本仪器的具有可扩展性，可以接计算机和数码相机。对图片进行保存、编辑和打印。
二、技术指标
1.显微镜技术参数:
| 名称 | 规格 |
| 总放大倍数： | 40X---630X |
| 无应力消色差物镜 | 4X/0.1 |
| 10X/0.25 | |
| 25X/0.40 | |
| 40X/0.65 弹簧 | |
| 63X/0.85 弹簧 | |
| 目镜 | 10X 十字目镜 |
| 10X 分划目镜 | |
| 试片 | 石膏 1λ 试片 |
| 云母 1/4λ 试片 | |
| 石英楔子试片 | |
| 测微尺 | 0.01mm |
| 滤色片 | 蓝色 |
| 带座目镜网络尺 | |
| 移动尺 | 移动范围 30mm×40mm |
| 镜筒 | 三目观察 |
| 热台组成 | 性能 |
| 显微精密控温仪 | 在 20倍物镜下工作温度可达到300 ℃ 、温度运行程序全自动控制；温度程序段由用户自行设定， 30段温度编程，循环操作，能准确反映设定温度、炉芯温度、样品的实际温度。每段设定起始温度，及在该段内可维持时间，升温速率可调、精度 ± 0.3 ℃、记忆点读数 |
| 显微加热平台 | 可以随载物台移动、工作区加热面积大、透光区域可调、工作区温度梯度低于± 0.1 · 起始温度室温 ·工作区加热使用面积至少 1X1厘米 · 工作区温度梯度不超过 ± 0.1 · 透光区域 2mm以上，可调 · 显示温度与实际温度误差不超过 ± 0.2 · 热台可以随载物台移动 在加热状态下可使用 20倍物镜 |
| 注意： 熔点测定（温度超过100度时，25X的物镜工作距离 太近，容易损坏镜头，请选用长工作距离的物镜25X、40X的物镜） | |
