高温介电常数测试仪
产简介：
本高频介电温谱系统主要用于绝缘材料在不同温度不同频率下的电学性能测试，系统包含高温炉膛，阻抗分析仪，微电流表，夹具，测试软件于体，可测试材料的介电常数，介质损耗，阻抗谱Co-Co图，机电耦合系数等，同时可分析被测样随温度，频率，时间变化的曲线，测试治具可以根据产及测试项目要求选购。
性能特点：
公司自主研发有高温介电测试夹具、高温四探针夹具、高温两探针夹具，可与高温测试平台配套组成套或多套高温阻抗、介电测量系统。
温度范围从室温至600℃、800℃、1000℃、1200℃，具备PID控制算法，控温精度可到士1℃，确保温度控制不超调。提供7种不同控温方式，满足客户多种测试需求。
高温介电测试夹具根据际标准ASTMD150方法，采用平行板电原理设计。电由上电、下电以及保护电组成。上下电具有良好的同心度和平行度，保护电可减少围空气电容的影响，使得测试数据更加准确可靠。
公司开发的高温阻抗、介电测量系统软件将高温测试平台、高温测试夹具与WK6500系列、Agilent(Keysight)4294A/E4980A/E4990A、TonghuiTH2826/2827/TH2810、Solartron1260LCR测量设备无缝连接，实现了自动完成高温环境下的阻抗、介电参数的测量与分析。另外，还可根据用户提供的其他LCR或型号完成定制需求。
软件可根据实验方案设计，通过测量C和D值，自动完成介电常数和介电损耗随频率、电压、偏压、温度、时间多维变化的曲线。次测量，同时输出，测量效率高、数据丰富多样。
技术参数
| 技术指标： |
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| 型号 | HCJD-801 | HCJD-802 | HCJD-803 | HCJD-804 |
| 温度范围 | 室温~600℃ | 室温~800℃ | 室温~1000℃ | 室温~1200℃ |
| 温度精度 | ±1℃ | ±1℃ | ±1℃ | ±1℃ |
| 测量精度 | 0.05% | 0.05% | 0.05% | 0.05% |
| 升温速率 | 10℃ | 10℃ | 10℃ | 10℃ |
| 控温方式 | PID | PID | PID | PID |
| 频率范围 | 20HZ-30MHZ | 20HZ-30MHZ | 20HZ-30MHZ | 20HZ-30MHZ |
| 电材料 | 铂金 | 铂金 | 铂金 | 铂金 |
| 通道数 | 通道1 | 通道1 | 通道1 | 通道1 |
| 测量环境 | 常温/空/气氛 | 常温/空/气氛 | 常温/空/气氛 | 常温/空/气氛 |
| 通讯方式 | USB | USB | USB | USB |
| 设备尺寸 | 600×400×650mm | 600×400×650mm | 600×400×650mm | 600×400×650mm |
应用域
■新型复合绝缘擦亮
■高分子绝缘材料
■无机绝缘材料
■有机绝缘材料
■其它绝缘材料等
功能特点：
测量精度高，智能控温，测量频率宽，抗交流干扰；
介电软件功能强大，拥有完善的测量系统；
直接得出介电常数实部和虚部的比值曲线；
直接得出复阻抗实部和虚部比值曲线的 Cole-Cole图；
直接得出机械质因数0m；
集方案、测量、分析、数字化显示于体集成化设计；
