X荧光光谱仪EDX8000的技术参数:
1. 分析精度: 0.05%
2. 分析含量范围：1PPM-99.99%
3. 测量元素：从硫至铀等75种元素
4. 测量对象：
粉末、固体、液体；
分析电镀溶液中金属离子浓度；
可分析10层以上的镀层；
5. 测试镀层至0.005um
6. 步进最小距离：0.01mm
7. 测量时间：60~300秒
8. 工作温度：15~30°C
9. 相对湿度：< 70%
10. 重量：30KG
11. 工作电压：AC 110/220V
X荧光光谱仪EDX8000的配置：
1. 单样品腔计
2. 算机、喷墨打印机
3. 硅针半导体探测器
4. 放大电路
5. 高低压电源
6. X光管
7. 双
8. 50至100倍物体放大
