| MiniTest2500 | MiniTest4500 | |
| 可存储的读数总数 *大批组数量 具有独立校准值的应用程序存储数量 具有相同校准值的批组每个应用程序存储的批组数量 | 2000000 1 - - | 2000000 超过9500 99 99 |
| 统计功能(每批组) | kvar, n, max., min. | kvar, n, max., min., CP, CPK |
| 校准 | - | 如果无基材使用，则通过涂层进行校准(CTC) |
| 补偿功能 | - | 用于从读数中加/减一个恒定值 |
| 极限设置(用户自定义) | - | 超出限制时的光信号和声音信号报警 |
| 测量单位 | μm, mm, cm, mils, inch | |
| 接口 可升级接口 | USB | USB和蓝牙 4.0 |
| - | 报警输出，脚踏开关触发，RS 232接口 | |
| 电源/每次更换电池的工作时间 | 3 x AA (LR06) 电池和USB/大约为150小时(不使用背光) | |
| 规范和标准 | DIN EN ISO1461, 2064, 2178, 2360, 2808, 3882；ISO 19840； ASTM B244,B499, D7091, E376 | |
| 显示 | 53 x 46 mm，带背光 | |
| 操作温度/存储温度 | 10 ~60°C / –20 ~ 70°C | |
| 尺寸/重量 | 53mm x 89mm x 36mm/ 320g(仪器包括电池)，橡胶保护套90g | |
| 防护等级 | IP 65 | |
可选探头
所有探头都可配合任一主机使用。在选择*适用的探头时需要考虑覆层厚度，基体材料以及基体的形状、厚度、大小、几何尺寸等因素。
| 探头 | 量程 | 低端 分辨率 | 误差 | *小曲率 半径(凸/凹) | *小测量 区域直径 | *小基 体厚度 |
| F05 | 0-500μm | 0.1μm | ±(1%+0.7μm) | 0.75/5mm | 3mm | 0.1mm |
| F3 | 0-3000μm | 0.2μm | ±(1%+1μm) | 1.5/10mm | 5mm | 0.5mm |
| F10 | 0-10mm | 5μm | ±(1%+10μm) | 5/16mm | 20mm | 1mm |
| F20 | 0-20mm | 10μm | ±(1%+20μm) | 10/30mm | 40mm | 2mm |
| F50 | 0-50mm | 10μm | ±(3%+50μm) | 50/200mm | 300mm | 2mm |
| N02 | 0-200μm | 0.1μm | ±(1%+0.5μm) | 1/5mm | 2mm | 50μm |
| N.08Cr | 0-80μm | 0.1μm | ±(1%+1μm) | 2.5mm | 2mm | 100μm |
| N10 | 0-10mm | 10μm | ±(1%+25μm) | 25/100mm | 50mm | 50μm |
| N20 | 0-20mm | 10μm | ±(1%+50μm) | 25/100mm | 70mm | 50μm |
| N100 | 0-100mm | 100μm | ±(1%+0.3mm) | 100mm/平面 | 200mm | 50μm |
| FN1.6 | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%+1μm) | 1.5/10mm | 5mm | F：0.5mm/N：50μm |
| FN1.6/90 | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%+1μm) | 平面/6mm | 5mm | F：0.5mm/N：50μm |
| F2HT | 0-2000μm | 0.2μm | ±(1%+1μm) | 1.5/10mm | 5mm | 0.5mm |
| 注： | F型探头：测量钢铁基体上的非磁性覆层 N型探头：测量有色金属基体上的绝缘覆层 FN两用探头：同时具备F型和N性探头的功能 FN1.6/90为直角探头，用于管内测量 N.08Cr用于测量铜上镀铬。 F2HT为高温探头，有两款，允许在高达250°C或350° C表面温度的热表面上进行涂层厚度测量 |
