产品简介：
美国Frontier Semiconductor(FSM)成立于1988年，总部位于圣何塞，多年来为半导体行业等高新行业提供各式精密的测量设备，客户遍布, 主要产品包括:光学测量设备: 三维轮廓仪、拉曼光谱、 薄膜应力测量设备、 红外干涉厚度测量设备、电学测量设备:高温四探针测量设备、非接触式片电阻及 漏电流测量设备、金属污染分析、等效氧化层厚度分析 (EOT)
FSM128薄膜应力及基底翘曲测试设备
在衬底镀上薄膜后, 因为两者材质不一样, 所以会引起应力. 如应力太大会引起薄膜脱落, 最终引致组件失效或可靠性不佳的问题. 薄膜应力激光测量仪利用激光测量样本的形貌,透过比较镀膜前后衬底曲率半径的变化, 以Stoney’s Equation计算出应力, 是品检及改进工艺的有效手段。
° 快速、非接触式测量
° 样品台可通用于3至8寸晶圆
128L型号适用于12寸晶圆
128G 型号适用于470 X 370mm样品，
另可按要求订做
° 双激光自动转换技术
如某一波长激光在样本反射度不足，系统会自动使用
另一波长激光进行扫瞄，满足不同材料的应用
° 全自动平台，可以进行2D及3D扫瞄（可选)
° 可加入更多功能满足研发的需求
电介质厚度测量
光致发光激振光谱分析
（III-V族的缺陷研究）
° 500 及 900°C高温型号可选
° 样品上有图案亦适用
° 规格:
° 测量方式: 非接触式(激光扫瞄)
° 样本尺寸:
° FSM 128 : 75 mm to 200 mm
° FSM 128L: 150 mm/ 200 mm/ 300mm
° FSM 128G: 550×650 mm
° 扫瞄方式: 高精度单次扫瞄、2D/ 3D扫瞄(可选)
° 激光强度: 根据样本反射度自动调节
° 激光波长: 650nm及780nm自动切换(其它波长可选)
° 薄膜应力范围: 1 MPa — 1.4 GPa
° (硅片翘曲或弯曲度变化大于1 micron)
° 重复性: 1% (1 sigma)*
° 准确度: < 2.5%*
° *使用20米半径球面镜
° 设备尺寸及重量:
° FSM 128: 14″(W)×22″(L)×15″(H)/ 270 lbs
° FSM128L:14″(W)×26″(L)×15″/ 280 lbs
° FSM128G:37″(W)×48″(D)×19″(H)/ 400 lbs
° 电源 : 110V/220V, 20A
