XTL-ⅠC连续变倍精密测量体视显微镜
XTL-ⅠC连续变倍精密测量体视显微镜是一款双目显微宏观观 察测量仪器，具有较长的工作距离，宽阔的视野，较好的光学成像质量，精密的测量度，以及7X-90X连续改变放大倍率等特点。操作简单，使用方便,是科研、教学、生产场所中用于微观测量观察用的*仪器设备，它的应用范围广泛，改直立观测为斜45度观测，并可以在360度范内。任何方位上使用，仪器水平测试操作方便、舒适，结构简单。具有可供各种科学研究、电子工业、生命科学、农林病虫害防治
地质岩石矿样分析、石油化工、教学示范，器仪表及细小密零件的测量检验
一、主要技术参数： 二、显微精密测量主要技术参数
放大倍数：7X-90X 系数:0.7-4.5
1、zui大工作视场：Ф28mm
2、zui大工作距：110 mm
3、瞳距调节范围：55-75mm
4、圆形载物台直径：Ф95mm
5、手轮调焦范围：49mm
6、升降调节范围：110mm
7、视度调节范围：±5屈光度
8、照明： 输入:电压:AC110V或220V
输出:斜射光照明12V15W带杯卤钨灯
透射光照明12V15W卤素灯
北京市科仪电光仪器厂
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1、zui小分度值：0.001mm
2、旋转360°，zui小值1°
3、示值误差：
测量范围（mm） 允许误差（mm）
0—25 ±0.003
25—50 ±0.003
50—75 ±0.004
75—100 ±0.004
4、电源：1.5V扣式
