薄膜全自动高精度测厚仪（思克）

薄膜全自动高精度测厚仪(思克)详细完备的生产工序指导书、检定记录记录了产品、系统整个生产过程的档案数据，各生产环节严格把控，各个部件可查，可追溯；生产责任可追溯。

薄膜全自动高精度测厚仪(思克)技术指标：

测量范围：0～2mm（标准）

                 0～6mm；12mm（可选）

分 辨 率：0.1μm

测量速度：1~25次/min（可调）

测量压力：17.5±1kPa（薄膜）；

                 50±1kPa（纸张）

接触面积：50mm2（薄膜）；

                 200mm2（纸张）

薄膜全自动高精度测厚仪(思克)注：薄膜、纸张任选一种；非标可定制

电 源：AC 220V 50Hz

外形尺寸：330 mm (L)×285 mm (B)×370 mm (H)

净 重：38kg

薄膜全自动高精度测厚仪(思克)标准配置：主机、触摸显示屏、微型打印机、标准量块一件

选 购 件：自动进样装置、配套软件、通信电缆、标准量块一件、DSM实验室数据管理系统

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