镀层膜厚仪——金东霖科技利用X射线荧光的非接触式的无损测试技术*地应用于微电子学、光通讯和数据储存工业中的金属薄膜测量。可以同时测量多至6层的金属镀层的厚度和成份,测量厚度可以从埃(?)至微米(um),它也能测量多至20个元素的块状合金成份。此仪器结构紧凑、坚固耐用、用于质量控制的可靠的台式X射线荧光分析设备,提供简单、快速、无损的镀层厚度测量和材料分析。
如果您需要一台出色、准确可靠的测量仪器,BA 100 是您正确的选择。
镀层膜厚仪——金东霖科技主要特点包括:
+ 成本低、快速、非破坏的分析。
+ 可完成至多4层镀层(另加底材)和15个元素的镀层厚度测试,自动修正X射线重叠谱线。
+ 的多元素辨识,广泛覆盖元素表上从铝(原子序数13号)到铀(92号)各元素,测厚行业20年知识和经验的积淀。
+ 可分析的样品种类繁多,包括固体、液体、粉末、糊状物、薄膜等,检测从ppm级至高达百分含量的浓度范围,覆盖元素周期表中从AL13到U92间的元素。
+ 可分析多种样品形状和尺寸:可分析多种样品类型,从微小的电子元件到浴室配件,提供多种硬件供选配,满足各种需要.