Binder M系列老化测试箱技术参数
Binder M系列加热测试箱型号 | 外部尺寸(L*H*W)mm | 内部尺寸(L*H*W)mm | 温度范围 | 内部容积L | 温度波动范围 |
M 53加热测试箱 | 634*779*575 | 400*400*330 | 环境温度以上5℃到300℃ | 53 | ≤±0.1℃ |
M 115加热测试箱 | 834*863*645 | 600*480*400 | 环境温度以上5℃到300℃ | 115 | ≤±0.1℃ |
M 240加热测试箱 | 1034*984*745 | 800*600*500 | 环境温度以上5℃到300℃ | 240 | ≤±0.1℃ |
M 400加热测试箱 | 1234*1184*765 | 100*800*500 | 环境温度以上5℃到300℃ | 400 | ≤±0.1℃ |
M 720加热测试箱 | 1234*1692*865 | 100*1200*600 | 环境温度以上5℃到300℃ | 720 | ≤±0.1℃ |
Binder M系列老化测试箱性能特点和设备
*强制对流的电子控制APT.line内腔预热技术
*温度范围:从环境温度以上5℃~300℃
*MCS控制器,有25个可储存程序,每个程序有100节,*多500个程序段
*用户友好型液晶显示屏幕
*易于读取的菜单指示
*内置的电子图表记录器
*过程参数的多种图形显示选项
*实时时钟
*通过程序编辑器调整斜坡函数
*程序控制通风风门片
*通过高性能风机具有很高的空气交换率(+约280%)
*后部排风管,直径50mm
*独立可调温度安全装置,2级(DIN 12880),配有可视报警
*用于通讯软件APT-COM数据控制系统的RS 422接口
*2个镀铬搁架
选配件
接入口,配有视窗和内部照明的门,加强型内箱,样品温度测量