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日本电子扫描电子显微镜

参考价面议
具体成交价以合同协议为准
  • 公司名称深圳市鸿永精仪科技有限公司
  • 品       牌
  • 型       号JSM-7800F
  • 所  在  地
  • 厂商性质其他
  • 更新时间2023/1/9 8:21:13
  • 访问次数66
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深圳市鸿永精仪科技有限公司是国内的实验室器材,用品用具,一站式解决方案规划设计实施的服务型平台企业。公司成立于2016年,由国内相关行业负责人和高级工程师组成,相关人员从业时间均高于八年。公司能够有效为客户提供各种实验室构建,仪器设备选配,实验室规章协助,CNAS认可协助等、立体化的创新性服务平台企业。  公司现有四大核心事业部:工厂级实验室构建、科教研单位实验室托管、仪器设备周边配套及耗材试剂、仪器设备前后端特种线缆销售。  工厂级实验室构建:助力制造行业,全方面提升企业产品品质,控制质量风险,提高品牌竞争力;包含质量中心构建,仪器设备选配,整体科学实验室设计实施等服务。  科教研单位实验室托管:助力科教研单位,全方面升级管理实验室,降低实验室运营成本,提高实验室运营效率,整合实验室产能,做大资源优化及协调;包含实验室包年服务,售后整包,实验室产能外包等核心服务。  仪器设备周边配套及耗材试剂:助力所有实验室企事业单位用户,提供高效快捷的耗品耗材,前处理设备仪器采购服务,公司服务工程师可根据客户现有设备仪器提供更加符合型的耗材试剂品牌产品,降低用户采购周期和选择性失误的影响。  仪器设备前后端特种线缆销售:配套厂家着重研发,快速有效,助力轨道交通新标准、新高度;合作轨道交通用户,提供高标准、高质量、长期效的线缆产品,能有效应用到复杂的各种环境中。  深圳市鸿永精仪科技有限公司始终秉承立足客户之所需,解决客户之所急,提供全面优质完善的解决方案和建议。    公司理念:鸿图远志 永续创新  服务理念:诚于品   信于德     立于行
日本电子扫描电子显微镜
日本电子扫描电子显微镜 产品信息
新一代扫描电镜JSM-7800F配备了新开发的超级混合式物镜(SHL),在保持的可操作性的同时,实现了低加速电压下的高分辨率,电子源采用浸没式(in-lens)肖特基场发射电子枪,因而能以大束流电流进行稳定的分析。

通过超级混合式物镜(SHL)进行高分辨率观察

JSM-7800F的物镜采用的是静电场和静磁场叠加的超级混合式物镜(SHL),由于减少了色差及球差,极大地提高了低加速电压下的分辨率。此外,SHL不会对样品形成磁场影响,因此观察磁性材料的样品和进行EBSD测试可以不受制约。

低加速电压下的能量选择

能量过滤器位于高位检测器 (UED)的正下方,可以选择能量。即使在低加速电压下,也能够精确地选择二次电子和背散射电子,因而可以通过低加速电压下的背散射电子像,观察样品的浅表面。

通过Gentle Beam (即柔和光束GB模式)观察样品的浅表面

给样品加以偏压(GB),对入射电子有减速、对释放出的电子有加速作用。即使入射电子束到达样品时的能量很低,也可以获得高分辨率、高信噪比的图像。如果利用能施加更高偏压的GB模式,用数十电子伏能量的入射电子束,就可以进行更高分辨率的观察。

通过多个检测器获取样品的所有信息

JSM-7800F配有四种检测器:高位检测器(UED) 、高位二次电子检测器(USD)、背散射电子检测器(BED)和低位检测器(LED)。UED过滤器的电压不同,二次电子和背散射电子的数量会改变,因此可以选择电子的能量,USD检测被过滤器弹回的低能量电子,BED通过检测低角度的背散射电子,能清楚地观察通道衬度。利用LED的照明效果能够获得含有形貌信息的、富有立体感的图像。

应用实例

  • 低加速电压下的观察
    利用JSM-7800F的GB模式,到达样品的能量从10 eV开始就可以观察。下面将到达样品的能量设定为80 eV进行实例观察:
    一个碳原子厚度的石墨薄片的表面

    样品: 石墨烯 到达能量80eV

  • 能量选择
    UED和USD能同时获取背散射电子像(左图)和二次电子像(右图),因此可以精确地解释图像。二次电子像主要反映形貌信息,金颗粒和TiO2的衬度没有明显不同,而背散射电子像中原子序数高的金颗粒则显得明亮。

    背散射电子像二次电子像
    样品: 金负载型TiO2催化剂(2kV)g


  • 利用GBSH观察
    利用GBSH对样品施加高偏压,像差将会减小,图像的高分辨率会更高。能清楚地观察到介孔二氧化硅里中的微孔(下图)。

    样品:介孔二氧化硅 到达样品的能量: 1keV

  • 观察磁性材料样品
    SHL物镜能抑制磁场的泄漏,因此即便是磁性材料的样品,也可以用极低的入射电子能量很容易地进行高分辨率观察 。

    样品: 磁铁矿纳米颗粒 到达样品的能量: 1keV

  • 磁性样品的EBSD测试
    SHL没有磁场泄漏的影响,也很适合于EBSD。象下图所示那样,通过反极图能准确地确定晶体的取向。

    分析点数: 118585
    尺寸:
    X: 80.00微米, Y : 79.89微米
    步长: 0.25微米
    相: Nd2Fe14B
    从样品中获得的EBSD花样实例
    ( 在任意点上获取)
    ND
    TD
    RD



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