一键式光学测量仪简单介绍：
基于光学成像的尺寸测量仪器在制造领域应用广泛，传统的光学尺寸测量仪器包括工具显微镜、投影仪、影像测量仪（二次元）等，都存在检测效率低、人为操作误差、人员技能要求高、数据难以信息化等各种问题。 本产品为新一代影像尺寸测量系统，通过远心光学系统、高速信号采集处理、高精度图像处理算法、智能化UI软件设计等技术，实现了对物体二维尺寸的快速成像测量，有效地解决了一次成像范围与测量精度的矛盾，大幅度提高了检测效率和测量精度，消除了人为误差，人员操作简便，实现了精密测量的自动化和智能化。
一键式光学测量仪详情介绍：
基于光学成像的尺寸测量仪器在制造领域应用广泛，传统的光学尺寸测量仪器包括工具显微镜、投影仪、影像测量仪（二次元）等，都存在检测效率低、人为操作误差、人员技能要求高、数据难以信息化等各种问题。
本产品为新一代影像尺寸测量系统，通过远心光学系统、高速信号采集处理、高精度图像处理算法、智能化UI软件设计等技术，实现了对物体二维尺寸的快速成像测量，有效地解决了一次成像范围与测量精度的矛盾，大幅度提高了检测效率和测量精度，消除了人为误差，人员操作简便，实现了精密测量的自动化和智能化。
一、技术参数：
型号：HK-200VC
测量范围(mm)：180×150。
调焦行程（mm）：50。
测量精度（μm）：±10。
重复精度（μm）：±4。
景深（mm）：300
光学系统：500万像素CCD；双远心工业镜头； 远心平行背光源、LED环形正面光源。
软件：专机快速闪测Easson软件。
接口：GigE ×1（双视野型号×2），RS 232 ×1，及其他可扩展接口。
电源：AC 220V，50Hz。
工作环境：温度15-25℃；湿度30%-80%；振动<0.002g, 15Hz。
二、主要特性
精准稳定快速：双远心光路结合图像畸变校正、亚像素数值处理算法，实现高精度、高稳定性尺寸测量；精密电动平台配合可快速更换及实时调节的正面照明系统，满足用户对复杂表面尺寸的准确测量。
光学畸变校正：在高精度图像尺寸测量应用中，镜头畸变校正具重要意义，即使是细微的畸变，也会造成精度严重滑坡。只有真实的图像才能真实地反映物体的真实形态。但是镜头畸变是透镜的固有失真造成的，实际应用中，还与镜头的精度、质量、生产厂商有着种种关联，是不可避免的。通常的镜头畸变主要为非线性畸变，包括了径向畸变和切向畸变。常见的桶形畸变和枕型畸变正是由径向畸变所造成的。而切向畸变是理想点沿着切线方向发生变化导致的，也可以理解为角度方向上的变化。因此，本产品对基于非线性技术的光学系统畸变校正算法进行了研究，以提高测量精度以及测量效率。将非线性畸变参数作为相机的内部参数之一，通过对初值的获取，联合其他的内部参数一并在非线性深度优化求解过程中获得。zui终利用得到的误差补偿函数的系数矩阵和径向畸变参数，实现镜头畸变的误差校正，有效改善了镜头畸变造成的检测误差，满足工业测量过程中的实时性和高精度要求。
图像加速处理：由于一键式图像尺寸测量仪测量精度高、速度快，所用的各种算法时间复杂度高，数据量大，算法中存在大量的细粒度计算，对系统处理速度要求，常规的单核处理方式显然无法满足其应用需求。因此，我们的技术团队开发了基于多核、多CPU、GPU（Graphics Processing Unit，图形处理器）加速等方式的图像加速处理算法，利用并行式处理，结合GPU的通用计算来加速图像处理计算中的轮廓匹配、亚像素精度几何测量算法等，在保证测量精度的前提下，提高系统运算速度。
柔性智能：点、线、圆等测量元素的智能组合，可灵活调用修改，减少规划工作量；测量数据可实时SPC统计分析，并以Excel、PDF 、Word、图片等格式保存；可智能识别被测产品并自动调用检测档案，无需人工搜索选择，快速切换产品；特定要素测量工具可定制，CAD交互、轮廓比对等功能可定制。
适用性广：固定视野型具有立式、卧式两大系列，适用平面及回转体工件，产品量程覆盖20-200mm，满足不同规格类型产品测量；同时具备运动平台式型号，结合光栅示数的运动平台进一步扩充测量范围；软硬件接口丰富，可集成各类测量传感器、自动化机构及数字化管理软件，组成自动化智能化系统。
自主产权：本产品具自主知识产权，成像组件均采用高性能进口产品，图像处理算法技术自主开发，为用户提供更好的性价比选择、更快速及时的技术服务，且避免了盗版等法律风险。
简便高效：大视野高景深成像，无需定位工件及夹具，单次测量周期为1-2s，效率是传统设备的数十倍；只需设置匹配特征、规划测量项目两个准备步骤，即可实现多产品、多尺寸批量测量；避免了传统影像测量仪繁杂的操作流程，生手经短时间培训即可熟练操作。
